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一种避免镶嵌料影响样品测试数据的方法
| 专利名称： | 一种避免镶嵌料影响样品测试数据的方法 |
| 摘要： | 一种避免镶嵌料影响样品测试数据的方法，属于样品制备领域。该方法可以有效避免镶嵌料对样品的影响，并且保证数据采集的方便性，从而确保实验结果的可靠性和实验结论的正确性。在样品的各种测试环境中，广泛存在一种情况，设计合理的框架，框架至少包括一个平面板，将待测样品一个外表面粘接固定到此平面板上，对垂直平面板的样品的一个侧面进行处理及表面观察或数据测试。保证数据采集的方便性，同时，对框架结构进行简化可以有效降低操作难度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京工业大学 |
| 发明人： | 汉晶;郭福 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810102940.X |
| 公开号： | CN108387417A |
| 代理机构： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 |
| 代理人： | 张立改 |
| 分类号： | G01N1/28(2006.01)I;G01N1/32(2006.01)I;G01N23/20(2018.01)I;G01N23/22(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N1;G01N23;G01N1/28;G01N1/32;G01N23/20;G01N23/22 |
| 申请人地址： | 100124 北京市朝阳区平乐园100号 |
| 主权项： | 1.一种避免镶嵌料影响样品测试数据的方法，其特征在于，包括以下步骤：设计合理的框架，框架至少包括一个平面板，将待测样品一个外表面粘接固定到此平面板上，对样品进行力、热和电等测试，在测试过程中对垂直平面板的样品的一个侧面进行处理及表面观察，如研磨、抛光、腐蚀等步骤处理后通过SEM、EBSD和EDS等对样品进行多次数据采集；或在测试前对垂直平面板的样品的一个侧面进行研磨、抛光、腐蚀等步骤处理，并通过SEM、EBSD和EDS等数据采集手段对样品的初始特征进行观察，然后对样品进行力、热和电等测试，并在测试过程中进行多次数据采集。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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