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基于高光谱成像技术的猕猴桃表面缺陷快速无损识别方法
| 专利名称： | 基于高光谱成像技术的猕猴桃表面缺陷快速无损识别方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于高光谱成像技术的猕猴桃表面缺陷快速无损识别方法，该方法包括以下步骤：利用高光谱图像采集系统采集一批完好无损猕猴桃和表面有缺陷猕猴桃样本的高光谱图像；对高光谱图像进行黑白校正，并通过掩膜处理以消除背景，使图像中仅含猕猴桃。同时，采用最小噪声分离变换对高光谱图像做进一步去噪处理。然后，分别提取猕猴桃正常区域以及表面缺陷区域的平均光谱，分析光谱曲线的特征。最后，采用阈值分割及数学形态学处理方法，先后分割提取出猕猴桃正常区域和表面缺陷区域。本发明通过高光谱成像技术，可快速、无损识别出表面有缺陷的猕猴桃。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 贵州;52 |
| 申请人： | 贵阳学院 |
| 发明人： | 孟庆龙;张艳;尚静 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811021626.5 |
| 公开号： | CN109187578A |
| 代理机构： | 贵阳春秋知识产权代理事务所(普通合伙) 52109 |
| 代理人： | 杨云 |
| 分类号： | G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 550005 贵州省贵阳市南明区见龙洞路103号 |
| 主权项： | 1.一种基于高光谱成像技术的猕猴桃表面缺陷快速无损识别方法，其特征在于：包括步骤如下：1）选取大小均匀完好无损的猕猴桃和表面有缺陷的猕猴桃作为样本集；2）对样本集中的样本运用高光谱图像采集系统进行光谱扫描，得到猕猴桃样本的高光谱图像，并对采集的猕猴桃高光谱图像进行黑白校正；3）经过黑白校正后的高光谱图像仍含有一些噪声，需要对猕猴桃高光谱图像进一步去噪处理，采用最小噪声分离变换对高光谱图像去噪处理；4）为了保证高光谱图像中仅有猕猴桃样本信息，通过求取猕猴桃果实区域中所有采样点下光谱的平均值，构建掩膜以去除背景，使高光谱图像中仅含有猕猴桃样本信息；5）分别提取猕猴桃正常区域以及表面缺陷区域的平均光谱，分析光谱曲线的特征，找出能区分猕猴桃正常区域和表面缺陷区域的特征波段；6）采用阈值分割及数学形态学处理方法，先后分割提取出猕猴桃正常区域和表面缺陷区域，实现基于高光谱成像技术的猕猴桃表面缺陷的快速无损识别。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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