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一种用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法
| 专利名称： | 一种用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法，包括：载物台，用于放置待检物；X轴微调机构，连接在载物台下端，用于沿X轴方向移动载物台；Y轴微调机构，连接在X轴微调机构下端，用于沿Y轴方向移动X轴微调机构从而改变载物台的位置。本发明通过利用微调装置安装在检测系统的旋转台上来对待检物的位置进行微调，使待检物的检测位置尽可能处在检测射线的中心周围，从而有利于在CT系统的投影和重建过程需要满足旋转中心、探测器中心、射线源焦点三者在一条直线上并且垂直于探测器的条件，并快速获得最佳几何放大比，提高CT检查系统的检测精度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海博物馆;上海恩迪检测控制技术有限公司 |
| 发明人： | 武慧;唐起波 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811109220.2 |
| 公开号： | CN109187602A |
| 代理机构： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 |
| 代理人： | 杨伦 |
| 分类号： | G01N23/046(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 200003 上海市黄浦区人民大道201号 |
| 主权项： | 1.一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，包括：载物台，用于放置待检物；X轴微调机构，连接在所述载物台下端，用于沿X轴方向移动所述载物台；Y轴微调机构，连接在所述X轴微调机构下端，用于沿Y轴方向移动X轴微调机构从而改变所述载物台的位置。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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