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原文传递一种用于射线无损检测的微调装置及具有其的检测系统

专利名称：	一种用于射线无损检测的微调装置及具有其的检测系统
摘要：	本实用新型提供了一种用于射线无损检测的微调装置及具有其的检测系统，包括：载物台，用于放置待检物；X轴微调机构，连接在载物台下端，用于沿X轴方向移动载物台；Y轴微调机构，连接在X轴微调机构下端，用于沿Y轴方向移动X轴微调机构从而改变载物台的位置。本实用新型通过利用微调装置安装在检测系统的旋转台上来对待检物的位置进行微调，使待检物的检测位置尽可能处在检测射线的中心周围，从而有利于在CT系统的投影和重建过程需要满足旋转中心、探测器中心、射线源焦点三者在一条直线上并且垂直于探测器的条件，并快速获得最佳几何放大比，提高CT检查系统的检测精度。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海博物馆
发明人：	丁忠明;武慧;唐起波
专利状态：	有效
申请日期：	2018-09-21T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-28T00:00:00+0800
申请号：	CN201821551020.8
公开号：	CN208907882U
代理机构：	北京轻创知识产权代理有限公司
代理人：	杨伦
分类号：	G01N23/046(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	200003 上海市黄浦区人民大道201号
主权项：	1.一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，包括：载物台，用于放置待检物； X轴微调机构，连接在所述载物台下端，用于沿X轴方向移动所述载物台； Y轴微调机构，连接在所述X轴微调机构下端，用于沿Y轴方向移动X轴微调机构从而改变所述载物台的位置。 2.根据权利要求1所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，还包括：连接部件，连接部件的一端连接在Y轴微调机构，另一端用于与无损检测装置的旋转台连接。 3.根据权利要求2所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，所述连接部件包括连接轴和用于与旋转台可拆卸连接的下安装台，所述连接轴的上端与Y轴微调机构连接，所述连接轴的下端连接有所述下安装台。 4.根据权利要求3所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，还包括：滑环，套设在所述连接轴上且位于所述Y轴直线滑台和所述下安装台之间。 5.根据权利要求4所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，所述滑环包括：内环，与所述连接轴固定连接且能随所述连接轴同步旋转；外环，与所述内环滑动连接，所述外环上连接有外环固定部件，所述外环固定部件的一端与外环连接，另一端固定连接在旋转台下方的固定台上。 6.根据权利要求5所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，所述外环固定部件包括：固定块，所述固定块的一端连接在外环上，另一端开设有卡口；连接板，所述连接板的一端连接有与所述卡口适配的插销，另一端开设有卡接槽；固定板，所述固定板的一端固定连接在旋转台下方的固定台上，另一端正对所述连接板的一侧连接有与所述卡接槽相适配的锁紧杆。 7.根据权利要求6所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，还包括：防护罩，围罩在载物台上且将所述X轴微调机构、所述Y轴微调机构和所述滑环包裹。 8.根据权利要求1至7任一项所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，所述X轴微调机构为X轴直线滑台，所述Y轴微调机构为Y轴直线滑台，所述X轴直线滑台滑动连接在所述Y轴直线滑台上构成十字滑台结构。 9.根据权利要求8所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，所述X轴直线滑台和Y轴直线滑台上均设有行程开关。 10.一种用于射线无损检测的无损检测系统，其特征在于，包括上述权利要求1至9任一项所述的用于射线无损检测的微调装置，还包括射线源系统、探测系统、机械扫描系统、数据采集传输系统、图像处理系统和控制系统，且所述射线源系统、所述探测系统、所述机械扫描系统、所述数据采集传输系统、所述图像处理系统均与所述控制系统连接，所述用于射线无损检测的微调装置安装在所述机械扫描系统的旋转台上。
所属类别：	实用新型