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基于红外热像仪的工件缺陷测量方法和系统
| 专利名称： | 基于红外热像仪的工件缺陷测量方法和系统 |
| 摘要： | 本发明属于红外测量技术领域，具体提供一种基于红外热像仪的工件缺陷测量方法和系统。本发明旨在解决现有的红外热像仪在工业应用中测量精度差的问题。为此，本发明的测量方法主要包括以下步骤：使红外热像仪获取第一标定块的第一图像；根据所述第一图像获取红外热像仪坐标系和第一标定块坐标系之间的第一映射关系；获取第一标定块坐标系和工件坐标系之间的第三映射关系；根据所述第一映射关系和第三映射关系获取所述红外热像仪坐标系和工件坐标系之间的第二映射关系；使所述红外热像仪遍历所述工件，检测并测量所述工件上的缺陷。因此，本发明的测量方法能够使红外热像仪精准地定位工件上缺陷的位置，并对工件上缺陷的尺寸进行准确地测量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院自动化研究所;天津中科智能技术研究院有限公司;中科智信达（天津）科技有限公司 |
| 发明人： | 吴保林;陈梦娟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810858243.7 |
| 公开号： | CN109187637A |
| 代理机构： | 北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙) 11482 |
| 代理人： | 宋宝库;陈晓鹏 |
| 分类号： | G01N25/72(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25 |
| 申请人地址： | 100190 北京市海淀区中关村东路95号 |
| 主权项： | 1.一种基于红外热像仪的工件缺陷测量方法，其特征在于，所述测量方法包括以下步骤：使红外热像仪获取第一标定块的第一图像；根据所述第一图像获取红外热像仪坐标系和第一标定块坐标系之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系获取所述红外热像仪坐标系和工件坐标系之间的第二映射关系；使所述红外热像仪遍历所述工件，检测并测量所述工件上的缺陷。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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