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一种微米孔通孔内壁质量的无损检测方法
| 专利名称： | 一种微米孔通孔内壁质量的无损检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及微米孔孔壁检测方法，涉及一种微米孔通孔内壁质量的无损检测方法。将待测微米孔样件固定于装有电解质溶液的电解池中间，微米孔样件将电解池中电解质溶液分成两部分，电解质溶液只能从微米孔样件通孔实现互通。接着将直流电源正负极电极分别插入微米孔样件两侧溶液中，施加电压后，两个电极间通过微米孔形成一个离子电流通路。电解池中探针通过夹持装置装夹在推进装置上，通过推进装置推进探针进入微米孔内，检测探针在进入微米孔内时阻塞电流变化的情况，从而实现对微米孔内壁质量的检测。本发明根据检测到的阻塞电流信号变化，对电流信号的分析实现对微米孔通孔内壁质量的快捷有效无损检测，保障产品生产过程中的质量控制。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 广东工业大学 |
| 发明人： | 谢志鹏;袁志山;王成勇;凌新生 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810784210.2 |
| 公开号： | CN109187674A |
| 代理机构： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 |
| 代理人： | 林丽明 |
| 分类号： | G01N27/27(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 510006 广东省广州市越秀区东风东路729号 |
| 主权项： | 1.一种微米孔通孔内壁质量的无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1. 获取待测微米孔样件；S2. 制备检测装置：S21.将待测微米孔样件固定于电解池中间，往电解池中注入电解质溶液；微米孔样件将电解池中的电解质溶液分成两部分，两部分的电解质溶液只能通过微米孔样件的通孔实现互通；S22. 将直流电源的正负极电极分别插入微米孔样件两侧的电解质溶液中；电极与电解池外部的直流电源、电流检测仪串联连接；当直流电源施加电压后，正负电极之间通过微米孔形成一个离子电流通路；S23. 在电解池中设置推进装置，在推进装置上通过夹持装置夹设有探针，当推动推进装置时，所述的探针沿待测微米孔的中轴线方向推进并穿过待测微米孔；S3. 推动推进装置，使探针沿待测微米孔的中轴线方向推进，记录探针进入待测微米孔内时阻塞电流的变化；S4. 根据阻塞电流信号的变化转换为待测微米孔孔壁的形貌，进行质量分析检测。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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