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原文传递用于光学发射检测的装置和方法

专利名称：	用于光学发射检测的装置和方法
摘要：	用于光发射检测的装置和方法包括闪烁块角靠近传感器。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	得克萨斯大学体系董事会
发明人：	王伟海;李宏迪;R·A·拉米瑞-加拉米罗;张玉烜;H·巴格黑
专利状态：	有效
申请号：	CN201780014198.0
公开号：	CN109196332A
代理机构：	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人：	高文静
分类号：	G01N21/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	美国得克萨斯
主权项：	1.一种用于光发射检测的装置，所述装置包括：包括闪烁晶体的块，其中：所述块包括第一端和与第一端平行的第二端；所述块包括在第一端和第二端之间延伸的多个侧面；以及所述块的第一端包括第一角、第二角、第三角和第四角；耦合到所述块的所述多个侧面和所述块的第一端的反射膜；耦合到所述块靠近第一角的第一光传感器；耦合到所述块靠近第二角的第二光传感器；耦合到所述块靠近第三角的第三光传感器；以及耦合到所述块靠近第四角的第四光传感器。
所属类别：	发明专利