专利名称: |
一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准B型试块 |
摘要: |
本实用新型属于无损检测领域,具体涉及一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准B型试块,包括试块主体以及设置在试块主体上的两组人工反射体和两个探头标记;所述两个探头标记分别刻蚀于试块主体上下表面且水平距离≥0,两组人工反射体分别分布于试块主体左右两个区域;其中一组人工反射体沿垂直于试块主体上表面的直线分布,以其中一个探头标记为圆心,水平距离均为50mm,角度范围30~85°,且与试块主体的侧面边界距离≥25mm;另一组人工反射体沿平行于试块主体上表面的直线分布,以另一个探头标记为圆心,垂直距离均为25mm,角度范围5~60°,且与试块主体的侧面边界距离≥25mm;所述人工反射体的直径为2mm。校准方便快捷,无相互干扰。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
安徽;34 |
申请人: |
安徽津利能源科技发展有限责任公司;中国能源建设集团安徽电力建设第一工程有限公司 |
发明人: |
朱琪;张小平;张伟;夏乐;徐境阳;陈进;孔燕;孙洪娜;曹文娟;商亚男;胡德军 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201820913148.8 |
公开号: |
CN208366925U |
代理机构: |
合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 |
代理人: |
赵瑜;金凯 |
分类号: |
G01N29/30(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29 |
申请人地址: |
230000 安徽省合肥市高新区柏堰科技园宁西路16号 |
主权项: |
1.一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准B型试块,其特征在于:包括试块主体(1)以及设置在试块主体(1)上的两组人工反射体(2)和两个探头标记(3);所述两个探头标记(3)分别刻蚀于试块主体(1)上下表面且水平距离≥0,两组人工反射体(2)分别分布于试块主体(1)左右两个区域;其中一组人工反射体(2)沿垂直于试块主体(1)上表面的直线分布,以其中一个探头标记(3)为圆心,水平距离均为50mm,以垂直于试块主体(1)上表面为0°记,角度范围30~85°,且与试块主体(1)的侧面边界距离≥25mm;另一组人工反射体(2)沿平行于试块主体(1)上表面的直线分布,以另一个探头标记(3)为圆心,垂直距离均为25mm,以垂直于试块主体(1)下表面为0°记,角度范围5~60°,且与试块主体(1)的侧面边界距离≥25mm;所述人工反射体(2)的直径为2mm。 |
所属类别: |
实用新型 |