专利名称: |
一种管道相控阵检测校准专用试块 |
摘要: |
本实用新型为一种管道相控阵检测校准专用试块,包括为长方体的试块,所述试块右端设有第一圆弧块和第二圆弧块,所述第一圆弧块和第二圆弧块为同心圆弧块,所述第一圆弧块和第二圆弧块的圆心设在所述试块的上表面,所述第一圆弧块的半径为所述试块的高度,所述第二圆弧块的直径为第一圆弧块的半径,所述第一圆弧块和第二圆弧块的宽度之和等于所述试块的宽度,所述试块的左右两侧设有若干前后贯穿的横通孔,所述横通孔的左右间距大于281mm,同一侧的所述横通孔之间的圆心间隔在15mm以上,本装置满足TCG曲线制作时的扫查距离要求,同时消除TCG曲线制作时产生的干扰,确保TCG曲线制作成功。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
海南;46 |
申请人: |
洋浦海科石化工程检测有限公司 |
发明人: |
姚子龙;汪志斌;何永 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-01-21T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-17T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201920091480.5 |
公开号: |
CN208872711U |
代理机构: |
广州三环专利商标代理有限公司 |
代理人: |
陈欢 |
分类号: |
G01N29/30(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
申请人地址: |
570100 海南省洋浦吉普路普瑞豪苑9栋1单元201号房 |
主权项: |
1.一种管道相控阵检测校准专用试块,其特征在于,包括为长方体的试块,所述试块右端设有第一圆弧块和第二圆弧块,所述第一圆弧块和第二圆弧块为同心圆弧块,所述第一圆弧块和第二圆弧块的圆心设在所述试块的上表面,所述第一圆弧块的半径为所述试块的高度,所述第二圆弧块的直径为第一圆弧块的半径,所述第一圆弧块和第二圆弧块的宽度之和等于所述试块的宽度,所述试块的左右两侧设有若干前后贯穿的横通孔,所述横通孔的左右间距大于281mm,同一侧的所述横通孔之间的圆心间隔在15mm以上。 2.根据权利要求1所述的一种管道相控阵检测校准专用试块,其特征在于,所述试块外侧套设有对所述试块加热的加热套环,所述加热套环与所述试块活动连接,所述加热套环与外接电源电连接。 3.根据权利要求1所述的一种管道相控阵检测校准专用试块,其特征在于,所述试块、第一圆弧块和第二圆弧块为一体式结构。 4.根据权利要求3所述的一种管道相控阵检测校准专用试块,其特征在于,所述试块的宽度为30mm,所述试块高度为100mm,左右两侧的所述横通孔均为竖向排列,左侧的所述横通孔距离所述试块最左侧的水平距离为50mm,右侧的所述横通孔到所述第一圆弧块的圆心的水平距离为50mm,左右两侧的所述横通孔的间距为300mm。 5.根据权利要求1所述的一种管道相控阵检测校准专用试块,其特征在于,左侧的所述横通孔为第一横通孔、第二横通孔和第三横通孔,所述第一横通孔、所述第二横通孔和第三横通孔的圆心到所述试块上表面的距离依次为10mm、30mm和50mm,右侧的所述横通孔为第四横通孔和第五横通孔,所述第四横通孔和第五横通孔的圆心到所述试块上表面的距离依次为5mm和20mm。 6.根据权利要求5所述的一种管道相控阵检测校准专用试块,其特征在于,所述第一横通孔、第二横通孔、第三横通孔、第四横通孔和第五横通孔的直径均为2mm。 |
所属类别: |
实用新型 |