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一种薄壁奥氏体管环缝相控阵检测定位校准试块
| 专利名称： | 一种薄壁奥氏体管环缝相控阵检测定位校准试块 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种薄壁奥氏体管环缝相控阵检测定位校准试块，该试块包括母材（1）、柱缺角反射体（2），其中所述母材（1）由无缝钢管制成，母材（1）上设有A/B/C/D/E共5个“柱缺”角反射体（2），所述“柱缺”角反射体（2）呈阶梯排列，“柱缺”角反射体分别设置于母材管内壁。本实用新型设计简单，加工方便，适宜于薄壁奥氏体管道对接环焊缝的超声相控阵检测定位校准。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海市特种设备监督检验技术研究院 |
| 发明人： | 周路云 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-12-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-08-16T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201822171359.1 |
| 公开号： | CN209264639U |
| 代理机构： | 上海三方专利事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 吴玮 |
| 分类号： | G01N29/30(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 200062 上海市普陀区金沙江路915号 |
| 主权项： | 1.一种薄壁奥氏体管环缝相控阵检测定位校准试块，其特征在于：包括母材（1）、柱缺角反射体（2），所述母材（1）由无缝钢管制成，母材的无缝钢管内壁上等间距依次设有若干级柱缺角反射体（2），若干级柱缺角反射体（2）间呈阶梯排列，每一级柱缺角反射体沿母材的无缝钢管内壁圆周整圈设置。 2.根据权利要求1所述的一种薄壁奥氏体管环缝相控阵检测定位校准试块，其特征在于：所述母材（1）采用奥氏体不锈钢无缝钢管。 3.根据权利要求2所述的一种薄壁奥氏体管环缝相控阵检测定位校准试块，其特征在于：所述母材（1）的管径与备检管道管径一致。 4.根据权利要求1所述的一种薄壁奥氏体管环缝相控阵检测定位校准试块，其特征在于：所述母材（1）的管长为240mm，母材（1）的管内壁以距离40mm等间距设置5个柱缺角反射体。 5.根据权利要求1或4所述的一种薄壁奥氏体管环缝相控阵检测定位校准试块，其特征在于：所述母材（1）的无缝钢管内壁为同心圆，壁厚范围从3mm～12mm，从小到大阶梯递增，每个阶梯壁厚误差范围小于±0.1mm。 6.根据权利要求5所述的一种薄壁奥氏体管环缝相控阵检测定位校准试块，其特征在于：所述柱缺角反射体（2）为r≤0.1的直角反射体，柱缺角反射体按40mm等间距设置于试块内壁，按壁厚3mm、4mm、6mm、8mm和10mm呈阶梯状排列。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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