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一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法及装置
| 专利名称： | 一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法及装置 |
| 摘要： | 本发明涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法，包括太赫兹波透射测量获取第一标定板和第二标定板分别作为被测样品以及无被测样品时的太赫兹波透射电场强度，得到第一标定板和第二标定板的复折射率；在某一入射角度下，太赫兹波反射测量获取第一标定板和第二标定板分别反射的太赫兹波反射电场强度；根据第一标定板和第二标定板的复折射率及菲涅尔公式分别求得二者反射系数表达式，结合二者反射的太赫兹波反射电场强度之比，计算太赫兹波反射测量的入射角。本发明还涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定装置。该方法及装置通过计算准确获得太赫兹波反射测量的入射角度，解决了现有技术中依赖角度仪读取无法精确确定入射角度的难题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京环境特性研究所 |
| 发明人： | 孙金海;蔡禾;郑岩;张旭涛;张景;刘永强;巢增明;殷红成 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811219808.3 |
| 公开号： | CN109211843A |
| 代理机构： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 |
| 代理人： | 周娇娇 |
| 分类号： | G01N21/55(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 100854 北京市海淀区永定路50号 |
| 主权项： | 1.一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法，其特征在于，包括：S1、太赫兹波透射测量获取第一标定板和第二标定板分别作为被测样品时的太赫兹波透射电场强度，以及无被测样品时的太赫兹波透射电场强度，其中第二标定板与第一标定板的透射率不同；S2、根据获取的有无被测样品时的太赫兹波透射电场强度之比，分别得到第一标定板和第二标定板的透射系数，进而得到第一标定板和第二标定板的复折射率；S3、太赫兹波反射测量获取第一标定板和第二标定板在同一入射角度下分别反射的太赫兹波反射电场强度；S4、根据第一标定板和第二标定板的复折射率及菲涅尔公式分别求得第一标定板和第二标定板的反射系数的表达式，结合第一标定板和第二标定板反射的太赫兹波反射电场强度之比，计算太赫兹波反射测量的入射角。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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