专利名称: |
基于太赫兹波检测大米的方法及系统 |
摘要: |
本发明涉及一种基于太赫兹波检测大米的方法。方法包括:以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描待测样品;采集待测样品所反射的太赫兹频段的反射波,并获取反射波的反射光谱;根据反射光谱对待测样品进行垩白区域检测。本发明还涉及一种基于太赫兹波检测大米的系统。上述基于太赫兹波检测大米的方法及系统,由垩白区域和非垩白区域反射的反射波的光强也不同。因此根据检测各个位置的反射波得到的反射光谱,便可分析待测样品的内部结构,由此判断待测样品内部是否存在垩白区域,太赫兹频段的电磁波穿透性强,分辨率高,操作简单,对待测样品无破坏性,检测大米垩白结构的效果较好。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院 |
发明人: |
李灿;沈耀春;丁庆;李辰 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810231619.1 |
公开号: |
CN108444940A |
代理机构: |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人: |
石佩 |
分类号: |
G01N21/3586(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I;G01N21/55(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3586;G01N21/3563;G01N21/55 |
申请人地址: |
518102 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东 |
主权项: |
1.一种基于太赫兹波检测大米的方法,其特征在于,所述方法包括:以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描待测样品;采集所述待测样品所反射的太赫兹频段的反射波,并获取所述反射波的反射光谱;根据所述反射光谱对所述待测样品进行垩白区域检测。 |
所属类别: |
发明专利 |