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原文传递 基于太赫兹波检测大米的方法及系统
专利名称: 基于太赫兹波检测大米的方法及系统
摘要: 本发明涉及一种基于太赫兹波检测大米的方法。方法包括:以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描待测样品;采集待测样品所反射的太赫兹频段的反射波,并获取反射波的反射光谱;根据反射光谱对待测样品进行垩白区域检测。本发明还涉及一种基于太赫兹波检测大米的系统。上述基于太赫兹波检测大米的方法及系统,由垩白区域和非垩白区域反射的反射波的光强也不同。因此根据检测各个位置的反射波得到的反射光谱,便可分析待测样品的内部结构,由此判断待测样品内部是否存在垩白区域,太赫兹频段的电磁波穿透性强,分辨率高,操作简单,对待测样品无破坏性,检测大米垩白结构的效果较好。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院
发明人: 李灿;沈耀春;丁庆;李辰
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810231619.1
公开号: CN108444940A
代理机构: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人: 石佩
分类号: G01N21/3586(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I;G01N21/55(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3586;G01N21/3563;G01N21/55
申请人地址: 518102 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东
主权项: 1.一种基于太赫兹波检测大米的方法,其特征在于,所述方法包括:以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描待测样品;采集所述待测样品所反射的太赫兹频段的反射波,并获取所述反射波的反射光谱;根据所述反射光谱对所述待测样品进行垩白区域检测。
所属类别: 发明专利
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