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基于太赫兹成像的缺陷检测方法及系统
| 专利名称： | 基于太赫兹成像的缺陷检测方法及系统 |
| 摘要： | 本申请公开了一种基于太赫兹成像的缺陷检测方法及系统，该方法包括：将被检测样品划分为若干扫查点，利用太赫兹波对若干所述扫查点进行步进扫查，得到若干所述扫查点分别对应的太赫兹时域透射脉冲；对若干所述太赫兹时域透射脉冲进行分析，得到若干扫查点对应的时域透射脉冲幅值；根据所述时域透射脉冲幅值，计算若干扫查点对应的灰度值，得到被检测样品的灰度图；根据灰度图中的明暗对比，定位被检测样品中的缺陷部位。本申请中基于太赫兹成像技术，对被检测样品进行成像，能够根据被检测样品提取出时域光谱数据，最终生成相应的灰度图，通过得到的灰度图能够使得待检测样品各种内部缺陷的形态可视化，从而准确的对待检测样品进行缺陷检测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 云南;53 |
| 申请人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 发明人： | 刘荣海;程雪婷;杨雪滢;周静波;代可顺;虞鸿江;焦宗寒;李宗红;许宏伟;宋玉峰;陈国坤;程志强;彭詠涛;孔旭晖;阎占元;李松涛;郭新良;杨迎春;郑欣;何运华 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-10-18T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-20T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910991227.X |
| 公开号： | CN110596142A |
| 代理机构： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 分类号： | G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 650217 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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