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基于太赫兹波的内部缺陷成像装置、方法及可读存储介质
| 专利名称： | 基于太赫兹波的内部缺陷成像装置、方法及可读存储介质 |
| 摘要： | 一种基于太赫兹波的内部缺陷成像方法、装置及计算机可读存储介质，所述方法包括：获取经由复合绝缘子反射得到的太赫兹反射波数据；基于扫描坐标顺序读取每一检测点的多个反射波形数据点；根据预设筛选规则从多个数据点中筛选得到多个极值点；判断每一极值点的绝对值是否大于预设缺陷峰值的绝对值最小值，及是否小于预设缺陷峰值的绝对值最大值与预设边缘效应系数的乘积；若均满足，则判定该极值点为表征缺陷区域的特征峰值；基于被判定为表征缺陷区域的极值点之间的时间间隔计算缺陷尺寸，将扫描坐标信息缺陷尺寸匹配的矩阵转化为可视化缺陷图像。本发明通过对太赫兹时域反射波进行分析，实现对复合绝缘子内部缺陷进行成像，方便缺陷检测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 清华大学深圳国际研究生院 |
| 发明人： | 梅红伟;江怀远;王黎明 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-17T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910906573.3 |
| 公开号： | CN110579483A |
| 代理机构： | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 曾昭毅;郑海威 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518055 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋2楼 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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