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基于太赫兹波的复合绝缘子缺陷检测装置、方法及介质
| 专利名称： | 基于太赫兹波的复合绝缘子缺陷检测装置、方法及介质 |
| 摘要： | 一种基于太赫兹波的复合绝缘子缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质，所述方法包括：采集入射至复合绝缘子的太赫兹时域入射波及经过复合绝缘子反射回的太赫兹时域反射波；将太赫兹时域入射波转换为太赫兹频域入射波及将太赫兹时域反射波转换为太赫兹频域反射波；基于太赫兹频域入射波、复合绝缘子的传递函数及预设校正项构建太赫兹频域反射波的频域表达式；对频域表达式进行求解得到该传递函数的频域最优解；将传递函数的频域最优解转换为时域波形；及基于传递函数的时域波形分析得到所述复合绝缘子的缺陷检测结果。本发明利用去卷积算法对波形进行分析，降低太赫兹脉冲重叠的可能性，提升复合绝缘子缺陷检测精度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 清华大学深圳国际研究生院 |
| 发明人： | 梅红伟;江怀远;王黎明 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-10T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910900805.4 |
| 公开号： | CN110554049A |
| 代理机构： | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 曾昭毅;郑海威 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518055 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋2楼 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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