原文传递
电子显示屏封装材料的缺陷检测方法
| 专利名称： | 电子显示屏封装材料的缺陷检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种电子显示屏封装材料的缺陷检测方法，包括提供样品，并对样品进行预处理；根据样品特征配制纳米级别的荧光溶液或荧光气体，并将配置好的荧光溶液或荧光气体置于无光处保存；将所述样品放置于荧光溶液或荧光气体中，使荧光分子充分渗入样品的缺陷内；取出样品、清洗并烘干；采用激光或者紫外光照射样品，使缺陷中的荧光分子产生荧光；观测样品并获取样品上纳米级以上的缺陷。本发明可以清晰探测到电子显示屏封装材料中纳米级及以上尺寸的缺陷，为检测纳米级缺陷提供了技术保障。此外，本发明对于电子显示屏封装材料的面积没有限制，且不会破坏电子显示屏封装材料下方的金属层或电路，避免对电子显示屏封装材料造成不可逆的破坏。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 胜科纳米(苏州)有限公司 |
| 发明人： | 张南;陈妍;寥金枝;潘慧慧;傅超;华佑南;李晓旻 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811015140.0 |
| 公开号： | CN109211930A |
| 代理机构： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
| 代理人： | 朱琳 |
| 分类号： | G01N21/91(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 215123 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区09栋507 |
| 主权项： | 1.一种电子显示屏封装材料的缺陷检测方法，包括：提供样品，并对样品进行预处理，所述样品预处理步骤包括：使用有机溶剂擦拭样品，并用光学显微镜观察，确保样品无污物；根据样品特征配制纳米级别的荧光溶液或荧光气体，并将配置好的荧光溶液或荧光气体置于无光处保存；将所述样品放置于荧光溶液或荧光气体中，使荧光分子充分渗入样品的缺陷内；取出样品、清洗并烘干；采用激光或者紫外光照射样品，使缺陷中的荧光分子产生荧光；观测样品并获取样品上纳米级以上的缺陷。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
