详情

原文传递用于检测及分析分子的集成装置

专利名称：	用于检测及分析分子的集成装置
摘要：	用于分析单分子并执行核酸定序的系统及方法。一种集成装置可包含具被配置以接收一样本之样本井的多个像素，该样本在被激发时发射辐射。该集成装置包含一表面，其具有自该表面的一部分凹入的一沟槽区域，及一阵列的样本井，其安置于该沟槽区域中。该集成装置亦包含一波导，其被配置以使激发能耦合至该阵列中之至少一个样本井，且定位于自该沟槽区域的一表面的一第一距离处及自在与该沟槽区域分离的一区域中之该表面的一第二距离处。该第一距离小于该第二距离。该系统亦包含一仪器，其与该集成装置介接。该仪器可包含一激发能源，用于藉由经耦合至该集成装置的一激发能耦合区域来提供激发能至该集成装置。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	宽腾矽公司
发明人：	乔纳森·M·罗斯伯格;阿里·卡比里;杰勒德·施密德;基斯·G·法夫;J·比奇;杰森·W·希克勒;罗伦斯·C·威斯特;保罗·E·格伦;K·普勒斯顿;法席德·加塞米;本杰明·西普里亚尼;杰瑞米·拉基
专利状态：	有效
申请号：	CN201780034485.8
公开号：	CN109219743A
代理机构：	隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人：	石海霞;金鹏
分类号：	G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	美国康涅狄格州
主权项：	1.一种集成装置，其包括：一表面，其具有自该表面的一部分凹入的一沟槽区域；一阵列的样本井，其安置于该沟槽区域中，其中该阵列的样本井的一样本井被配置以接收一样本；及一波导，其被配置以使激发能耦合至该阵列中之至少一个样本井，且被定位于自该沟槽区域之一表面的一第一距离处及自与该沟槽区域分离的一区域中之该表面的一第二距离处，其中该第一距离小于该第二距离。
所属类别：	发明专利