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一种远场涡流和磁致伸缩导波混合传感器及其检测方法
| 专利名称： | 一种远场涡流和磁致伸缩导波混合传感器及其检测方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种远场涡流和磁致伸缩导波混合传感器及其检测方法，该方法包括S1：利用信号发生模块产生低频信号后，通过功率放大加载到激励传感器上进行远场涡流检测，获得相应频率的感应电压；S2：获得感应电压后，能够通过已知的缺陷截面积与感应电压的关系式计算得到缺陷截面积的大小；S3：利用信号发生模块产生高频信号后，通过功率放大加载到激励传感器上进行磁致伸缩导波检测；S4：通过分析磁致伸缩导波信号，获得远处的缺陷的位置信息及缺陷的大小。本发明不增加装置的前提下，结合磁致伸缩导波检测能够检测远距离缺陷和远场涡流检测近距离的缺陷的优点，提高检测缺陷的效率，能够实现对微小缺陷的定量化分析。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 哈尔滨工业大学（深圳） |
| 发明人： | 张东来;高伟;潘世旻;张恩超;晏小兰 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811184458.1 |
| 公开号： | CN109212019A |
| 代理机构： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 |
| 代理人： | 胡吉科 |
| 分类号： | G01N27/90(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市西丽深圳大学城 |
| 主权项： | 1.一种远场涡流和磁致伸缩导波混合传感器检测方法，其特征在于：所述检测方法包括以下步骤：S1：利用信号发生模块产生低频信号后，通过功率放大加载到激励传感器上进行远场涡流检测，获得相应频率的感应电压；S2：获得感应电压后，能够通过已知的缺陷截面积与感应电压的关系式计算得到缺陷截面积的大小；S3：利用信号发生模块产生高频信号后，通过功率放大加载到激励传感器上进行磁致伸缩导波检测；S4：通过分析磁致伸缩导波信号，获得远处的缺陷的位置信息及缺陷的大小。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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