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一种高光谱大视场成像光谱仪光谱弯曲校正方法
| 专利名称： | 一种高光谱大视场成像光谱仪光谱弯曲校正方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种高光谱大视场成像光谱仪光谱弯曲校正方法，首先成像光谱仪通过漫反射板获取全视场的太阳散射光光谱，然后在中心视场光谱中选择一条大气吸收线作为匹配谱线，并在成像光谱仪空间方向进行光谱匹配以获取不同视场处的大气吸收线的像元位置，进而得到空间视场光谱弯曲值。最后基于光谱弯曲值实现成像光谱仪光谱弯曲的校正。本发明实现了基于大气吸收线的光谱弯曲校正，消除了由于大视场引起的光谱弯曲畸变，方法可靠且简单易行，有利于提高成像光谱仪的光谱质量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 安徽;34 |
| 申请人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 发明人： | 赵敏杰;司福祺;江宇;汪世美 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811353279.6 |
| 公开号： | CN109238991A |
| 代理机构： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 |
| 代理人： | 安丽;成金玉 |
| 分类号： | G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号 |
| 主权项： | 1.一种高光谱大视场成像光谱仪光谱弯曲校正方法，其特征在于包括以下步骤：设全视场太阳散射光谱图像为Si,j，其中i为光谱通道数，其取值范围i∈1～P由成像光谱仪探测光谱范围确定，j为空间视场，其取值范围j∈1～Q由成像光谱仪探测视场确定。第一步，全视场太阳散射光谱图像获取；成像光谱仪观测太阳散射光，保证太阳散射光充满成像光谱仪观测视场，得到全视场太阳散射光谱图像为Si,j，第二步，大气吸收线的选取；从全视场太阳散射光谱图像Si,j中提取中心视场的光谱数据Si,center，以中心视场的光谱数据Si,center为参考光谱，从中心视场的光谱数据Si,center中选取中心视场大气吸收线SΔλ,center，其中Δλ为吸收线对应的光谱通道范围，其它视场l,l∈1～Q选取的大气吸收线为SΔλ,l；第三步，光谱匹配步长的设置；基于成像光谱仪的光谱定标精度，设置中心视场大气吸收线SΔλ,center与其它视场l,l∈1～Q大气吸收线SΔλ,l进行匹配的步长δ；第四步，光谱匹配；将中心视场大气吸收线SΔλ,center按照匹配步长δ与其它视场l,l∈1～Q大气吸收线SΔλ,l进行匹配，根据Pearson相关系数法判定每次步长下的匹配结果，得到匹配结果最优时对应的步长，其为视场l,l∈1～Q下的光谱偏移值δl；第五步，空间视场光谱弯曲值确定；根据第四步光谱匹配方法对全视场太阳散射光谱图像Si,j在空间视场方向进行光谱匹配，得到每个视场下的光谱偏移值δj，j∈1～Q，基于光谱偏移值δj得到空间视场光谱弯曲值Cj；第六步，光谱弯曲校正建立校正模型，根据空间视场光谱弯曲值Cj对全视场太阳散射光谱图像Si,j进行光谱弯曲校正，最终完成全视场光谱弯曲校正。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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