详情

原文传递矿物微区微结构微成分分析方法

专利名称：	矿物微区微结构微成分分析方法
摘要：	本发明公开了一种矿物微区微结构微成分分析方法，本发明利用扫描电镜仪器对硅质岩的矿物进行微形貌分析、微结构分析和微组分分析。本发明方法测量结果精准，从微观尺度的角度分析硅质岩的矿物微区、微组构和微成分。探索硅质岩的成因、形成环境与过程，从而深化了对硅质岩的认识。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	中山大学
发明人：	周永章;张彦龙;沈文杰;何俊国
专利状态：	有效
申请号：	CN201811048457.4
公开号：	CN109239110A
代理机构：	成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241
代理人：	李鹏
分类号：	G01N23/087(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	510275 广东省广州市海珠区新港西路135号
主权项：	1.矿物微区微结构微成分分析方法，其特征是包括以下步骤：步骤一：将样品磨制成薄片，并将薄片喷碳或喷金；步骤二：将薄片放置于扫描电镜仪器分别进行微形貌分析、微结构分析和微组分分析；第一步微形貌分析：从硅质岩的截面形态、边界形态和共生矿物的排布进行分析；截面形态：原生SiO2质矿物根据组成硅质岩的SiO2矿质矿物结晶程度的不同，按照SiO2矿质矿物颗粒的粒度和自形程度可将其划分为非自形和自形两类；根据SiO2矿矿物的晶型及堆积方式，通过扫描电镜仪器扫描的SiO2矿物颗粒截面存在多种形态：自形晶呈短柱状、长柱状、双锥状、菱形、六边形并具有较好的棱角及相对平直的边界；非自形矿物则无明显的特征形态，颗粒无明显的棱角和平直边界；非SiO2质矿物通过扫描电镜仪器扫描，同生沉积的非SiO2质矿物呈零散状分布；变质矿物分布于硅质岩的高形变部位如微裂隙；外来矿物充填于裂隙呈集合体产出；边界形态：通过扫描电镜仪器扫描，根据形态将SiO2矿物划分为台阶状、絮状和过渡状，台阶状边界归属于石英颗粒正常生长过程的产物，絮状，絮状边界归属于后期流体改造的产物，过渡状态颗粒边界的形态及特征介于前两者之间；共生矿物的排布：通过扫描电镜仪器扫描，与SiO2质矿物共生的非SiO2质矿物的排布为杂乱无规律型、长轴定向型和过渡型，其中杂乱无规律型反应硅质岩内原生非SiO2质矿物的分布特征；第二步微结构特征：通过扫描电镜仪器扫描，硅质岩的微结构包括SiO2质矿物的结构和SiO2质矿物与共生矿物的结构；SiO2质矿物的结构以细小的长条带分布于石英颗粒体中，SiO2质矿物与共生矿物的结构包括四种，环带结构、交代结构、空隙充填结构和紧密镶嵌结构；第三步微成分特征：通过扫描电镜仪器扫描，根据矿物图像亮度与所含元素原子序数的关系，得出矿物组成成分。
所属类别：	发明专利