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一种SERS单元、SERS芯片及SERS检测系统
| 专利名称： | 一种SERS单元、SERS芯片及SERS检测系统 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种SERS单元、SERS芯片以及SERS检测系统，SERS单元包括基材和多个纳米粒子聚集体，基材包括由第一材料构成的第一层、设置在第一层上方且由第二材料构成的第二层，第二层的上表面分布有多个纳米凹陷部；每一个纳米粒子聚集体由多个纳米粒子聚集形成，且每一个纳米粒子聚集体分别被一对应的纳米凹陷部所限制。本实用新型的SERS单元及SERS芯片具有高SERS活性(EF～108)，高均匀性(任意1μm2点误差<10％)，极佳的稳定性(>1年)和批次重现性(误差<15％)等优点，可广泛应用于物质的痕量分析或生物分子的检测。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 苏州天际创新纳米技术有限公司 |
| 发明人： | 郭清华;孙海龙 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201821000377.7 |
| 公开号： | CN208399384U |
| 代理机构： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 |
| 代理人： | 汪青;向亚兰 |
| 分类号： | G01N21/65(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 215000 江苏省苏州市工业园区若水路398号D栋7楼 |
| 主权项： | 1.一种SERS单元，其特征在于，所述SERS单元包括基材和多个纳米粒子聚集体，其中，所述基材包括由第一材料构成的第一层、设置在所述第一层上方且由第二材料构成的第二层，所述第二层的上表面分布有多个纳米凹陷部；每一个所述纳米粒子聚集体由多个纳米粒子聚集形成，且每一个所述纳米粒子聚集体分别被一对应的所述纳米凹陷部所限制。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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