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基于检测ICT测点确定PCB质量的方法、装置及介质
| 专利名称： | 基于检测ICT测点确定PCB质量的方法、装置及介质 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法、装置及介质，该方法首先接收输入的DIP零件的pin与ICT测点的距离设置值，然后获取PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值，最后判断以各第一坐标值为圆心，以距离设置值为半径的范围内是否存在ICT测点，若存在ICT测点，说明对应的ICT测点容易在波峰焊时受到影响，导致PCB质量降低，若全部范围内均不存在ICT测点，说明在进行波峰焊时，ICT测点不容易受到影响。由此可见，本方法能够根据坐标值的关系自动确定出ICT测点与DIP零件的pin距离是否过近，相对于人工确定的方式而言，可以减少大量的工时，而且出现漏检的概率低，提高了PCB质量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 河南;41 |
| 申请人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 发明人： | 李艳军 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811300819.4 |
| 公开号： | CN109270084A |
| 代理机构： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
| 代理人： | 罗满 |
| 分类号： | G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 450018 河南省郑州市郑东新区心怡路278号16层1601室 |
| 主权项： | 1.一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法，其特征在于，包括：接收输入的DIP零件的pin与ICT测点的距离设置值；获取当前PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值；判断在以各所述第一坐标值为圆心，以所述距离设置值为半径的范围内是否扫描到ICT测点；如果是，则确定当前PCB不合格，否则确定当前PCB合格。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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