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测定磁性超薄膜磁性均一度的方法及其应用
| 专利名称： | 测定磁性超薄膜磁性均一度的方法及其应用 |
| 摘要： | 本发明提供了一种测定磁性超薄膜磁性均一度的方法及其应用。该方法包括：步骤S1，提供磁性超薄膜样品，并采用铁磁共振法获取磁性超薄膜样品的铁磁共振谱；步骤S2，根据铁磁共振谱建立磁性超薄膜样品的半高全宽随微波频率变化的第一关系曲线；以及步骤S3，线性拟合第一关系曲线，利用拟合结果表征磁性超薄膜样品的均一度。上述方法仅通过铁磁共振法中几个频率的测量，即能够获取磁性超薄膜样品的均一度信息，有效地提高了测定效率、缩短了测定时间。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 中电海康集团有限公司 |
| 发明人： | 何世坤 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201710588067.5 |
| 公开号： | CN109270106A |
| 代理机构： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
| 代理人： | 韩建伟;谢湘宁 |
| 分类号： | G01N24/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N24 |
| 申请人地址： | 311121 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室 |
| 主权项： | 1.一种测定磁性超薄膜磁性均一度的方法，其特征在于，包括：步骤S1，提供磁性超薄膜样品，采用铁磁共振法获取所述磁性超薄膜样品的铁磁共振谱；步骤S2，根据所述铁磁共振谱建立所述磁性超薄膜样品的半高全宽随微波频率变化的第一关系曲线；以及步骤S3，线性拟合所述第一关系曲线，利用拟合结果表征所述磁性超薄膜样品的均一度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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