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原文传递质量分析装置和质量分析方法

专利名称：	质量分析装置和质量分析方法
摘要：	提供质量分析装置和质量分析方法，能够在视觉上清晰地识别质量分析困难的副成分有无存在。一种质量分析装置(110)，其具有显示部(220)，并且对含有测定物质的试样进行分析，其中，质量分析装置(110)还具有：存储部(215)，其存储针对测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰(T)；一致度计算部(217)，其根据区域内的试样的质谱(N)与理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部(219a)，其使显示部显示一致度；以及重叠显示控制部(219b)，其使显示部以质荷比一致的方式将试样的质谱和理论峰重叠显示。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	日本株式会社日立高新技术科学
发明人：	佐久田昌博
专利状态：	有效
申请号：	CN201810788020.8
公开号：	CN109283238A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：	黄纶伟;孙明浩
分类号：	G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种质量分析装置，其具有显示部，并且对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置还具有：存储部，其存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；一致度计算部，其根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部，其使所述显示部显示所述一致度；以及重叠显示控制部，其使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。
所属类别：	发明专利