专利名称: |
用于定量质量分析的方法和系统 |
摘要: |
公开了一种对来自同一或共同离子注入事件的具有不同质荷比(m/z)的前体离子种类进行定量质量分析的方法。将具有不同的相应m/z比的多个前体离子种类同时引入到离子阱质量分析仪中。分离出所述前体离子种类。使具有多个电荷且具有第一m/z比范围的第一子集的经分离前体离子片段化,并通过将所述扫描分成至少两个分开的扫描窗口来进行扫描。针对第一子集的前体离子的片段离子产生第一质谱。使具有第二m/z比的第二子集的经分离前体离子片段化且进行扫描,并且针对第二子集的前体离子的片段离子产生第二质谱。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
美国;US |
申请人: |
萨默费尼根有限公司 |
发明人: |
李林繁;J·C·施瓦茨 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810245008.2 |
公开号: |
CN108627566A |
代理机构: |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人: |
陈洁;姬利永 |
分类号: |
G01N27/62(2006.01)I;H01J49/00(2006.01)I;G;H;G01;H01;G01N;H01J;G01N27;H01J49;G01N27/62;H01J49/00 |
申请人地址: |
美国加利福尼亚州 |
主权项: |
1.一种操作离子阱质量分析仪以便定量样品中的分析物的方法,包括:a.将样品离子在单次注入事件中引入到所述离子阱质量分析仪中,所述样品离子包含具有第一质荷比(m/z)范围的第一前体离子和具有第二m/z范围的第二前体,所述第一前体离子具有多个电荷;b.同时分离出所述第一前体离子和所述第二前体离子;c.使所述第一前体离子而非所述第二前体离子片段化,以产生第一产物离子;d.以共振喷射q的第一值执行第一扫描,以质量选择性地将具有低于所述第二前体离子m/z范围的m/z的第一产物离子喷射到检测器,并以低于所述第一值的所述共振喷射q的第二值执行第二扫描,以质量选择性地将具有大于所述第二前体离子m/z范围的m/z的第一产物离子喷射到所述检测器,其中在所述第一和第二共振喷射扫描期间,所述第二前体离子滞留在所述离子阱质量分析仪中;e.使所述第二前体离子片段化以产生第二产物离子;以及f.执行第三扫描以质量选择性地将第二产物离子喷射到所述检测器。 |
所属类别: |
发明专利 |