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原文传递质量分析装置和质量分析方法

专利名称：	质量分析装置和质量分析方法
摘要：	本发明提供一种质量分析装置和质量分析方法，其在不使装置大型化的情况下提高对包含夹杂物等第2物质的第1物质的检测精度，并且能够缩短测定时间。一种对试样进行分析的质量分析装置(110)，该试样包含由有机化合物构成的第1物质、和由有机化合物构成且质谱的峰与第1物质重叠的1种以上的第2物质，该质量分析装置具备峰校正部(217)，该峰校正部基于各第2物质的标准物质的质谱的峰中与第1物质的质谱的峰不重叠的峰A和与第1物质的峰重叠的峰B的非线性的强度的关系F，从试样中的第1物质的质谱的峰C的强度中减去由峰A的强度和关系F在每一规定时间间隔算出的峰B的推定强度的总和，算出第1物质的质谱的净值的峰D的强度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	日本株式会社日立高新技术科学
发明人：	佐久田昌博;的场吉毅
专利状态：	有效
申请日期：	2018-11-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-19T00:00:00+0800
申请号：	CN201811337884.4
公开号：	CN110031582A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司
代理人：	褚瑶杨;庞东成
分类号：	G01N30/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N30
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种质量分析装置，其为对包含第1物质和1种以上的第2物质的试样进行分析的质量分析装置，所述第1物质由有机化合物构成，所述第2物质由有机化合物构成且质谱的峰与所述第1物质重叠，所述质量分析装置的特征在于，具备峰校正部，所述峰校正部基于各所述第2物质的标准物质的质谱的峰中与所述第1物质的质谱的峰不重叠的峰A和与所述第1物质的所述峰重叠的峰B的非线性的强度的关系F，从所述试样中的所述第1物质的质谱的峰C的强度中减去由所述峰A的强度和所述关系F在每一规定时间间隔算出的所述峰B的推定强度的总和，算出所述第1物质的质谱的净值的峰D的强度。 2.如权利要求1所述的质量分析装置，其中，所述第2物质存在2种以上，所述峰校正部从所述峰C的强度中减去关于各所述第2物质的所述推定强度的总和。 3.如权利要求1或2所述的质量分析装置，其中，所述峰校正部在所述推定强度超过规定阈值的情况下算出所述峰D的强度。 4.如权利要求1～3中任一项所述的质量分析装置，其中，进一步具备将所述第1物质和所述第2物质电离的电离部，所述峰B归属于所述电离时由所述第2物质生成的碎片离子。 5.如权利要求1～4中任一项所述的质量分析装置，其中，进一步具备在每一时间将所述推定强度和所述峰B的强度重叠显示于规定的显示部的显示控制部。 6.如权利要求1～5中任一项所述的质量分析装置，其中，进一步具备在每一时间将所述推定强度和所述峰C的强度重叠显示于规定的显示部的显示控制部。 7.一种质量分析方法，其为对包含第1物质和1种以上的第2物质的试样进行分析的质量分析方法，所述第1物质由有机化合物构成，所述第2物质由有机化合物构成且质谱的峰与所述第1物质重叠，所述质量分析方法的特征在于，基于各所述第2物质的标准物质的质谱的峰中与所述第1物质的质谱的峰不重叠的峰A和与所述第1物质的所述峰重叠的峰B的非线性的强度的关系F，从所述试样中的所述第1物质的质谱的峰C的强度中减去由所述峰A的强度和所述关系F在每一规定时间间隔算出的所述峰B的推定强度的总和，算出所述第1物质的质谱的净值的峰D的强度。
所属类别：	发明专利