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原文传递质量分析装置和质量分析方法

专利名称：	质量分析装置和质量分析方法
摘要：	提供质量分析装置和质量分析方法，能够提高包含杂质等第二物质在内的第一物质的检测精度并且缩短测定时间而不会使装置大型化。质量分析装置(110)对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置(110)的特征在于，其具有峰校正部(217)，当设各第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与第一物质的峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部(217)从试样中的第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算第一物质的质谱的净峰D的强度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	日本株式会社日立高新技术科学
发明人：	佐久田昌博;大川真;的场吉毅
专利状态：	有效
申请号：	CN201810781274.7
公开号：	CN109283265A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：	黄纶伟;孙明浩
分类号：	G01N30/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N30
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种质量分析装置，其对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与所述第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置具有峰校正部，当设各所述第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与所述第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与所述第一物质的所述峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部从所述试样中的所述第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算所述第一物质的质谱的净峰D的强度。
所属类别：	发明专利