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一种材料输运性能测量系统和测量方法
| 专利名称： | 一种材料输运性能测量系统和测量方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种材料输运性能测量系统，包括椭圆偏振测量装置以及热容测取装置以及控制器，椭圆偏振测量装置依次经光路连接的光源、起偏器、样品架、集成检偏器以及探测器组件；光源发出的光线经过起偏器照射到待测样品，待测样品将光反射到集成检偏器；从待测样品反射出来的多个偏振光线入射到集成偏振器，所述探测器组件与集成偏振器连接分别检测所述多个光学信号，并将多个光学信号对应转换为多个第一电信号输出给控制器；热容测取装置非接触式测量待测样品的温度参数，并将温度参数转换为第二电信号输出给控制器；控制器解析第二电信号和多个第一电信号以获取材料输运性能参数。本发明还提供一种材料输运性能测量方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 宁波英飞迈材料科技有限公司 |
| 发明人： | 汪晓平;项晓东 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201710588097.6 |
| 公开号： | CN109283158A |
| 代理机构： | 深圳市智享知识产权代理有限公司 44361 |
| 代理人： | 王琴;蔺显俊 |
| 分类号： | G01N21/55(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 315000 浙江省宁波市高新区聚贤路1299号 |
| 主权项： | 1.一种材料输运性能测量系统，其特征在于：包括椭圆偏振测量装置以及热容测取装置以及控制器，所述椭圆偏振测量装置、所述热容测取装置分别与控制器电连接；所述椭圆偏振测量装置包括依次经光路连接的光源、起偏器、样品架、集成检偏器以及探测器组件；所述样品架用于放置待测样品，光源发出的光线经过起偏器照射到待测样品，待测样品将光反射到所述集成检偏器；从待测样品反射出来的多个偏振光线入射到集成偏振器，所述探测器组件与集成偏振器连接分别检测所述多个光学信号，并将多个光学信号对应转换为多个第一电信号输出给控制器；热容测取装置非接触式测量待测样品的温度参数，并将温度参数转换为第二电信号输出给控制器；控制器解析第二电信号和多个第一电信号以获取材料输运性能参数。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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