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原文传递质量分析装置和质量分析方法

专利名称：	质量分析装置和质量分析方法
摘要：	提供质量分析装置和质量分析方法。一种质量分析装置(200)，其具有加热含有第一物质和在比第一物质高的温度下气化的第二物质的试样而产生气体成分的加热部(10)，检测通过加热部而生成的气体成分，所述质量分析装置(200)具有：加热控制部(212)，其以第一温度(T1)对加热部进行加热直至达到第一时间(t1)，在超过了第一时间时，对加热部进行加热直至达到使第二物质的气体产生的第二温度(T2)，该第一温度(T1)和第一时间(t1)是预先求出的使第一物质的气体产生而不使第二物质的气体产生的温度和时间条件；以及分析控制部(219)，其在第一温度下，在分配给第一物质的第一测定条件下进行质量分析，直至达到所述第一时间，在第二温度下，在分配给第二物质的第二测定条件下进行质量分析。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	日本株式会社日立高新技术科学
发明人：	广瀬龙介;秋山秀之;坂井范昭
专利状态：	有效
申请号：	CN201810788044.3
公开号：	CN109283220A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：	黄纶伟;孙明浩
分类号：	G01N25/20(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种质量分析装置，其具有加热含有第一物质和在比该第一物质高的温度下气化的第二物质的试样而产生气体成分的加热部，检测通过该加热部而生成的所述气体成分，其特征在于，所述质量分析装置具有：加热控制部，其以第一温度对所述加热部进行加热直至达到第一时间，在超过了所述第一时间时，对所述加热部进行加热直至达到使所述第二物质的气体产生的第二温度，其中，该第一温度和第一时间是预先求出的使所述第一物质的气体产生而不使所述第二物质的气体产生的温度和时间条件；以及分析控制部，其在所述第一温度下，在分配给所述第一物质的第一测定条件下进行质量分析，直至达到所述第一时间，在所述第二温度下，在分配给所述第二物质的第二测定条件下进行质量分析。
所属类别：	发明专利