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一种平面阵列电容成像方法及系统
| 专利名称： | 一种平面阵列电容成像方法及系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种平面阵列电容成像方法及系统，涉及图像重建技术领域。本发明中，平面电容成像系统包括电容传感器、数据测量及采集模块、计算机；电容传感器将被测物的物场介质的分布转化为电容值；数据测量及采集模块用于测量和采集任意两个电极片间的电容值，并将测得电容数据传输至计算机；计算机通过模糊C均值聚类算法对电容数据进行数据优化，将优化后的电容值作为图像重建值，并结合非迭代图像处理算法或迭代图像处理算法进行缺陷图像的重建，得到重建图像。与传统成像方法相比较，本发明能解决电容数据受电极片位置影响及检测环境的噪声干扰的问题，得到更加稳定、高质量的被测场图像。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 河北;13 |
| 申请人： | 燕山大学 |
| 发明人： | 温银堂;张玉燕;曹鹏鹏;罗小元;梁波;韩勇 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811449731.9 |
| 公开号： | CN109283230A |
| 代理机构： | 北京高沃律师事务所 11569 |
| 代理人： | 程华 |
| 分类号： | G01N27/24(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 066000 河北省秦皇岛市河北大街西段438号 |
| 主权项： | 1.一种平面阵列电容成像方法，其特征在于，应用于一种平面阵列电容成像装置，所述平面阵列电容成像装置包括：电容传感器、数据测量及采集模块和计算机；所述电容传感器包括多个电极片，被测物位于所述电极片中间，所述电极片与所述数据测量及采集模块连接，所述数据测量及采集模块与所述计算机连接；所述电容传感器用于将被测物的物场介质的分布转化为电容值；所述数据测量及采集模块用于测量和采集所述电容值，并将所述电容值传输至所述计算机；所述计算机用于采用图像重建算法对所述电容值进行处理，得到重建图像；所述平面阵列电容成像方法包括：获得所述数据测量及采集模块采集的初始电容值；通过模糊C均值聚类算法对所述初始电容值进行分类，保留符合所述模糊C均值聚类算法收敛的电容值；将所述收敛电容值作为图像重建值，对所述图像重建值采用非迭代图像处理算法或迭代图像处理算法进行缺陷图像的重建。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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