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一种平面式的电容层析成像系统及检测方法
| 专利名称： | 一种平面式的电容层析成像系统及检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种平面式的电容层析成像系统及检测方法，所述电容层析成像系统包括上位机、单片机、电容测量电路、开关电路、阵列式电容传感器，其中：单片机分别与上位机、电容测量电路和开关电路连接；开关电路分别与阵列式电容传感器和电容测量电路连接；单片机控制开关电路对阵列式电容传感器进行电极切换，实现不同电极间的电容连接，以便能用电容测量电路进行测量，电容测量电路的数据单向传递到单片机，利用单片机对数据进行采集后与上位机的数据采集通信系统通信将数据传入电脑，然后图像重建系统对数据进行处理与重建。该电容层析成像系统结构简单，成本低，能够实现大面积的快速检测，从而能实现对缺陷的快速检测与定位。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 黑龙江;23 |
| 申请人： | 哈尔滨工业大学 |
| 发明人： | 萧鹏;史倩竹;丁雨谢;殷丽娟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-06T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-29T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910843434.0 |
| 公开号： | CN110514703A |
| 代理机构： | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 |
| 代理人： | 高媛 |
| 分类号： | G01N27/24(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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