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基于DBSCAN和k-means算法的板类结构多缺陷检测方法
| 专利名称： | 基于DBSCAN和k-means算法的板类结构多缺陷检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于DBSCAN和k‑means算法的板类结构多缺陷检测方法，包括以下步骤：1)采集板类结构的损伤信号，将该损伤信号与同一条件下获取的健康信号进行差值处理，获得差值信号；2)基于所述差值信号获得直达波差值特征信号；3)基于预先选取的特征信号阈值确定候选缺陷数据点；4)根据所述候选缺陷数据点，利用DBSCAN和k‑means算法进行缺陷的定量和定位。与现有技术相比，本发明利用智能算法在多缺陷且未知缺陷数目的情况下准确判断缺陷数目，有效地消除了外部噪音、Lamb波的频散、边界反射和缺陷处模态转换的影响，提高了信噪比，对多缺陷进行准确定位，具有较高的工程应用价值。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 华东理工大学 |
| 发明人： | 周邵萍;陈超峰;翟双苗;胡刚毅;陈少杰 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811131942.8 |
| 公开号： | CN109283248A |
| 代理机构： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 |
| 代理人： | 翁惠瑜 |
| 分类号： | G01N29/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 200237 上海市徐汇区梅陇路130号 |
| 主权项： | 1.一种基于DBSCAN和k‑means算法的板类结构多缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)采集板类结构的损伤信号，将该损伤信号与同一条件下获取的健康信号进行差值处理，获得差值信号；2)基于所述差值信号获得直达波差值特征信号；3)基于预先选取的特征信号阈值确定候选缺陷数据点；4)根据所述候选缺陷数据点，利用DBSCAN和k‑means算法进行缺陷的定量和定位。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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