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基于改进多次反射全聚焦成像算法的界面型缺陷检测方法
| 专利名称： | 基于改进多次反射全聚焦成像算法的界面型缺陷检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于改进多次反射全聚焦成像算法的界面型缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤S1:根据界面深度S及接收P次回波所需的时长，设置仪器参数；步骤S2:采用全矩阵捕获技术对待测工件进行回波捕获；步骤S3:对待测区域离散的每一个目标成像点采用改进多次反射全聚焦算法进行虚拟聚焦,得到待测区域界面型缺陷检测结果。本发明基于改进多次反射全聚焦成像算法，采集多次回波，将每一次回波中所包含的目标成像点信息都进行深度累加，从而突出了界面缺陷的特征，大大提高了脱粘缺陷的检出率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 福州大学 |
| 发明人： | 钟舜聪;范学腾;伏喜斌;沈耀春 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811245799.5 |
| 公开号： | CN109212032A |
| 代理机构： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 |
| 代理人： | 蔡学俊 |
| 分类号： | G01N29/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 350108 福建省福州市闽侯县上街镇福州大学城学院路2号福州大学新区 |
| 主权项： | 1.一种基于改进多次反射全聚焦成像算法的界面型缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1:根据界面深度S及接收P次回波所需的时长，设置仪器参数；步骤S2:采用全矩阵捕获技术对待测工件进行回波捕获；步骤S3:对待测区域离散的每一个目标成像点采用改进多次反射全聚焦算法进行虚拟聚焦,得到待测区域界面型缺陷检测结果。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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