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使用滤波图像数据的超声波质量控制
| 专利名称： | 使用滤波图像数据的超声波质量控制 |
| 摘要： | 一种超声波质量控制检查工件的质量并且自动地对所述工件进行分类。所述工件被扫描(101)，并且通过所述扫描形成图像(102)。参考工件也被扫描(103)，并且通过对所述参考工件的所述扫描形成参考图像(104)。此外，形成所述参考图像的负片图像(105)，并且利用所述图像和所述负片图像来创建指示图像(106)。利用数个图像滤波器来对所述指示图像进行滤波，各个图像滤波器对除了特定于图像滤波器的指示等级数据之外的所述指示图像的所有数据进行滤波(107)。此外，由所述特定于图像滤波器的指示等级数据提供数个指示等级数据(108)，并且利用所述数个指示等级数据对所述工件进行分类(109)。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 芬兰;FI |
| 申请人： | 瓦锡兰芬兰有限公司 |
| 发明人： | T·哈卡赖宁 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201680087026.1 |
| 公开号： | CN109313163A |
| 代理机构： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
| 代理人： | 刘爱勤;黄纶伟 |
| 分类号： | G01N29/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 芬兰瓦萨 |
| 主权项： | 1.一种控制工件的质量的超声波质量控制方法，所述方法包括以下步骤：利用至少一个超声波探头来扫描所述工件(101)；通过所述扫描形成至少一个图像(102)，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：利用至少一个超声波探头来扫描参考工件(103)；通过对所述参考工件的所述扫描形成至少一个参考图像(104)；形成所述至少一个参考图像的至少一个负片图像(105)；利用所述至少一个图像和所述负片图像来创建至少一个指示图像(106)；利用数个图像滤波器来对至少一个指示图像进行滤波，各个图像滤波器对除了特定于图像滤波器的指示等级数据之外的所述指示图像的所有数据进行滤波(107)；由所述图像滤波器形成数个指示等级数据(108)；利用所述数个指示等级数据来将所述工件分类为被接受或被拒绝(109)。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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