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用于根据晶体状态处理玻璃材料的方法、系统和设备
| 专利名称： | 用于根据晶体状态处理玻璃材料的方法、系统和设备 |
| 摘要： | 一种用于处理玻璃材料的方法，所述方法包括将来自光源的光线引导和/或聚焦至位于处理系统的热阶段中的玻璃材料，其中，所述光源提供波长λ的光线，所述光线与可形成于玻璃材料中的晶体相互作用。所述方法包括将引自热阶段中玻璃材料的光线收集和/或引导至波长分光器，并且对引自所述玻璃材料的光线进行分离，以提供波长在波长λ的约20纳米以内的光谱δ。所述方法包括利用检测器对光谱δ的光线进行观察，以识别处理系统热阶段中的玻璃材料中因与晶体(如果存在)的相互作用而导致的波长λ的纳米级位移。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | 康宁股份有限公司 |
| 发明人： | S·A·科尔;G·G·穆尔 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201780037624.2 |
| 公开号： | CN109313123A |
| 代理机构： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 |
| 代理人： | 高宏伟;乐洪咏 |
| 分类号： | G01N21/17(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 美国纽约州 |
| 主权项： | 1.一种用于处理玻璃材料的方法，所述方法包括以下步骤：将来自光源的光线引导和/或聚焦至玻璃材料，所述玻璃材料位于用于处理玻璃材料的系统的热阶段中，其中，所述玻璃材料包含玻璃和/或玻璃陶瓷，所述玻璃能在所述玻璃中形成晶体，而所述玻璃陶瓷具有形成于所述玻璃陶瓷中的晶体，且所述光源提供波长λ的光线，所述光线与能形成于所述玻璃材料中的晶体相互作用，且所述系统的所述热阶段至少部分包围所述玻璃材料，且所述玻璃材料中的至少一些处于至少200℃的温度下；对引自所述系统的所述热阶段中的所述玻璃材料的光线进行收集和/或引导，并且将引自所述玻璃材料的光线引向波长分光器；利用所述波长分光器对引自所述玻璃材料的光线进行分离，以提供引自所述玻璃材料的波长在来自所述光源的所述光线的波长λ的约20纳米以内的光线的光谱δ；利用检测器对所述光线的光谱δ中的光线进行观察，如果存在晶体，对所述玻璃材料中因与所述晶体的相互作用而导致的来自所述光源的光线的所述波长λ的纳米级位移进行观测；从所述检测器接收有关所述系统的所述热阶段中的所述玻璃材料的结晶信息；以及根据所述结晶信息来改变所述热阶段中的条件。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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