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原文传递 纺织品尺寸变化率自动测试及评级装置
专利名称: 纺织品尺寸变化率自动测试及评级装置
摘要: 本实用新型提供了一种纺织品尺寸变化率自动测试及评级装置,包括:计算及评级装置、无线接收装置及磁栅测量装置;所述测量装置包括磁栅硬尺、磁栅导轨及磁栅磁头,所述磁栅磁头置于所述磁栅导轨上,用于测量纺织品尺寸,并将测量值转换成无线信号,经所述无线接收装置,发送至所述计算及评级装置;所述计算及评级装置用于基于获取的所述测量值,根据预置的计算公式及评级标准进行尺寸变化率计算及评级。本实用新型节省了大量人工成本,提高了测试效率,提高了测试精度。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 北京和众视野科技有限公司
发明人: 陈龙;彭湘洲;董兰兰
专利状态: 有效
申请号: CN201820511692.X
公开号: CN208476931U
分类号: G01N33/36(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N33
申请人地址: 100825 北京市门头沟区城子市场街29号1-9号
主权项: 1.一种纺织品尺寸变化率自动测试及评级装置,其特征在于,包括:计算及评级装置、无线接收装置及磁栅测量装置;所述测量装置包括磁栅硬尺、磁栅导轨及磁栅磁头,所述磁栅磁头置于所述磁栅导轨上,用于测量纺织品尺寸,并将测量值转换成无线信号,经所述无线接收装置,发送至所述计算及评级装置;所述测量装置还包括测量开关、置零按钮、撤销按钮及发送按钮,所述测量开关用于开启和关闭所述磁栅测量装置,所述置零按钮用于通过所述磁栅磁头的位置,改变零点的位置,所述撤销按钮用于撤销最后一次测量时发送的测量值数据,所述发送按钮用于发出所述磁栅磁头当前位置测量值的无线信号;所述磁栅硬尺上设有长度刻度;所述磁栅硬尺及磁栅磁头上分别安装2个平行的指针,用于指示磁栅硬尺的零点和试样的标记点;所述计算及评级装置用于基于获取的所述测量值,根据预置的计算公式及评级标准进行尺寸变化率计算及评级。
所属类别: 实用新型
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