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X射线荧光光谱法测定锶永磁铁氧体成分含量的方法
| 专利名称： | X射线荧光光谱法测定锶永磁铁氧体成分含量的方法 |
| 摘要： | X射线荧光光谱法测定锶永磁铁氧体成分含量的方法，包括以下步骤：（1）制备标准样片；（2）设置测试条件、测定条件；（3）建立标样曲线；（4）试样成分测定。本发明采用X射线荧光粉末压片法对锶永磁铁氧体中所含成分进行测定和检测，测定精度能够达到电感耦合等离子体原子发射光谱法测定水平，所建立的标样曲线可长期使用，测量试样检测周期缩短到10min以内，本方法能够同时快速准确测定出锶永磁铁氧体中多种成分含量，且操作简单、精确度高、检测周期短、检测成本低、环境污染小。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖南;43 |
| 申请人： | 湖南航天磁电有限责任公司 |
| 发明人： | 邓兴民;王玉明;郑亮;刘超 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811279041.3 |
| 公开号： | CN109324074A |
| 代理机构： | 长沙星耀专利事务所(普通合伙) 43205 |
| 代理人： | 宁星耀;宁冈 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 410200 湖南省长沙市望城区金星北路1106号 |
| 主权项： | 1.X射线荧光法测定锶永磁铁氧体成分含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）制备标准样片：用已知各成分含量的锶永磁铁氧体粉末经烘干过筛处理后用压样机压制成一组各成分含量具有梯度的标准样片；（2）设置测试条件、测定条件：设置各成分对应元素的基础测试条件、测定条件，所述的基础测试条件包括：测定谱线、分光晶体、电流、电压、测量时间、峰位角，所述的测定条件包括光管电压、光管电流、滤片、衰减器；（3）建立标样曲线：采用X射线荧光光谱仪在步骤（2）所设置的基础测试条件下测定步骤（1）所制标准样片各成分的X荧光强度，利用所得的各成分X荧光强度与已知成分含量值对应，经校准和扣除干扰后，线性回归建立线性标样曲线，保存于X射线荧光光谱仪中；（4）试样成分测定：将待测试样粉末经烘干过筛处理后用压样机压制成试样样片，采用X射线光谱仪测定试样各成分X荧光强度，根据步骤（3）建立的标样曲线，由仪器自动测算出待测样品中各成分的含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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