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原文传递 X射线荧光光谱法测定蛇纹石化学成分的方法

专利名称：	X射线荧光光谱法测定蛇纹石化学成分的方法
摘要：	本发明公开了一种用X荧光光谱法测定蛇纹石中二氧化硅、氧化镁、三氧化二铝含量的方法。与现有的检测技术相比较，本发明采用X射线荧光光谱法，克服了原有湿法化学分析方法操作复杂，分析时间长、使用试剂量大，易对环境造成污染等缺陷，实现了多元素同时测定，试剂用量少，操作安全环保的技术突破，具有分析速度快，样品熔融玻璃片保留时间长，分析精密度、准确度高，适合钢铁企业生产过程中现场快速分析的需求。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	内蒙古;15
申请人：	包头钢铁(集团)有限责任公司
发明人：	周景涛;赵布和;张新林;郝丽蓉;魏古琳;孙志峰;马越
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-04T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201910599716.0
公开号：	CN110261420A
代理机构：	北京律远专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	全成哲
分类号：	G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	014010 内蒙古自治区包头市昆区河西工业区
主权项：	1.X射线荧光光谱法测定蛇纹石中二氧化硅、氧化镁、三氧化二铝含量的方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：利用蛇纹石标准样品配制成分含量范围具有浓度梯度的系列标准样品； S2：将配制好的系列标准样品和待测试样分别与混合熔剂混合均匀后，加入脱模剂，高温熔融，制备得到系列标准样片和待测试片； S3：采用X射线荧光光谱仪在设定好的测量条件下，检测系列标准样片，应用PCMXF软件，得到待测元素二氧化硅、氧化镁、三氧化二铝的强度值与含量关系的校准工作曲线； S4：采用X射线荧光光谱仪在S3的测量条件下检测待测试片，根据S3的校准工作曲线，获得蛇纹石中二氧化硅、氧化镁、三氧化二铝的含量。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在步骤S1之前，还对蛇纹石标准样品和待测试样进行高温灼烧，所述高温灼烧的具体方法为：分别称取适量的蛇纹石标准样品和待测试样置于恒重容器中，在950±10℃马弗炉中灼烧lh，取出冷却至室温，置于干燥器中备用。 3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述蛇纹石标准样品为GBW(E)070201蛇纹石标准样品。 4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于：步骤S1的具体操作方法为：分别称取质量不同的12个蛇纹石标准样品，作为待测校准标准样品，以0.7000g标准样品作为基本称样量，称取的待测校准标准样品质量与0.7000g比较，折算出的成分含量作为该待测校准标准样品中成分含量的认定值，折算的成分含量范围应能够覆盖实际使用中蛇纹石中成分含量范围；具体的折算公式为：待测校准标准样品的成分含量认定值＝(称取的待测校准标准样品的质量*基本称样量中成分含量的认定值)/0.7000。 5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤S2中，所述混合熔剂为偏硼酸锂和无水四硼酸锂的混合物，其质量比为33％:67％。 6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤S2中，所述系列标准样品和待测试样与混合熔剂的质量比均为1：1.1。 7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤S2中，所述脱模剂为溴化锂，质量百分比浓度10％。 8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤S2中，所述高温熔融采用高温熔融炉，熔融温度为1050℃±10℃，熔融时间包括静止加热熔融、摇摆加热熔融及旋转加热熔融时间，共计20min。 9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤S3中，根据系列标准样品绘制的校准工作曲线的检测范围为：SiO2：25.00％—45.00％；MgO：25.00％—45.00％；AL2O3：0.50％—2.00％。
所属类别：	发明专利