专利名称: |
显微成像宽光谱测定仪 |
摘要: |
本实用新型特别涉及一种显微成像宽光谱测定仪,包括光源、全反射镜、平面镜、物镜、分光镜、相机以及光谱仪,所述光源发出的光线经过全反射镜反射入射至平面镜,平面镜为透明材料制成用于放置被检测物体,透过被检测物体的光线经过物镜后射出至分光镜上分成两束相同的光线,其中一路光线进入相机中成像,另一路光线输出至光谱仪中进行光谱分析。通过设置光源、全反射镜、分光镜以及光谱仪,能够实现被检测物的光谱分析,物镜、分光镜以及相机组成的光路能够实现显微成像功能,在同一台仪器上实现了两种功能,降低了仪器成本,同时光路更佳简洁,使用起来也方便很多。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市贝诺光科科技有限公司 |
发明人: |
向五峰 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201820565743.7 |
公开号: |
CN208488381U |
代理机构: |
北京中济纬天专利代理有限公司 11429 |
代理人: |
秦超 |
分类号: |
G01N21/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
518101 广东省深圳市宝安区西乡西城工业区茂成大厦6楼 |
主权项: |
1.一种显微成像宽光谱测定仪,其特征在于:包括光源(10)、全反射镜(20)、平面镜(30)、物镜(40)、分光镜(50)、相机(60)以及光谱仪(70),所述光源(10)发出的光线经过全反射镜(20)反射入射至平面镜(30),平面镜(30)为透明材料制成用于放置被检测物体,透过被检测物体的光线经过物镜(40)后射出至分光镜(50)上分成两束相同的光线,其中一路光线进入相机(60)中成像,另一路光线输出至光谱仪(70)中进行光谱分析。 |
所属类别: |
实用新型 |