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一种基于拉曼光谱的陶瓷材料应力测量方法
| 专利名称： | 一种基于拉曼光谱的陶瓷材料应力测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开一种基于拉曼光谱的陶瓷材料应力测量方法，通过获得对多个陶瓷试样施加不同大小的压力而产生不同的拉曼光谱图，确定拉曼光谱图的波峰位置，根据应力和拉曼光谱图波峰位置的频移量关系图可以获得陶瓷材料的拉曼应力系数，利用拉曼应力系数和内应力未知的陶瓷试样对应的拉曼光谱主峰频移量可以计算内应力未知的陶瓷试样的内应力大小。该方法还提出了一种能对陶瓷材料施加恒定应力的装置，能够保证陶瓷试样拉曼应力系数X的得出，从而根据内应力未知的陶瓷试样对应的拉曼光谱主峰频移量可以直接计算未知应力的大小，操作简便，广泛使用于脆性陶瓷材料，并且拉曼光谱不易受外界干扰，可以提高测量的精度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海大学 |
| 发明人： | 张玉文;张佳露;李岚茜;章超;鲁雄刚 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811515453.2 |
| 公开号： | CN109342402A |
| 代理机构： | 北京高沃律师事务所 11569 |
| 代理人： | 程华 |
| 分类号： | G01N21/65(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 200000 上海市宝山区上大路99号 |
| 主权项： | 1.一种基于拉曼光谱的陶瓷材料应力测量方法，其特征在于，所述方法包括：获得不受力的陶瓷试样的拉曼光谱图，确定所述不受力的陶瓷试样的拉曼光谱图的主峰位置；对多个所述陶瓷试样施加不同大小的力，获得施加所述不同大小的力的陶瓷试样的拉曼光谱图，确定所述施加所述不同大小的力的陶瓷试样的拉曼光谱图的主峰位置；根据所述施加所述不同大小的力的陶瓷试样的拉曼光谱图的主峰位置与所述不受力的陶瓷试样的拉曼光谱图的主峰位置的拉曼频移量，和对应的所述不同大小的力，计算所述陶瓷试样的拉曼应力系数；选择与所述陶瓷试样材料相同但内应力未知的陶瓷试样，获得所述内应力未知的陶瓷试样拉曼光谱图，确定所述内应力未知的陶瓷试样拉曼光谱图的主峰位置；根据所述内应力未知的陶瓷试样拉曼光谱图的主峰位置与所述不受力的陶瓷试样的拉曼光谱图的主峰位置的拉曼频移量，和所述陶瓷试样的拉曼应力系数，计算所述内应力未知的陶瓷试样内应力的值。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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