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离子迁移光谱仪和离子迁移光谱测定方法
| 专利名称： | 离子迁移光谱仪和离子迁移光谱测定方法 |
| 摘要： | 一种离子迁移光谱测定方法，包括确定样本是否包含具有第一特性的离子，以及在确定该样本包含具有第一特性的离子的情况下，对母离子施加热能以及射频RF电场，以便获取具有第二特性的子离子，由此基于所述第一特性和所述第二特性来推断出母离子的至少一个标识。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 英国;GB |
| 申请人： | 史密斯探测－沃特福特有限公司 |
| 发明人： | D·夏普;J·阿特金森 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811081443.2 |
| 公开号： | CN109342544A |
| 代理机构： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 |
| 代理人： | 肖冰滨;王晓晓 |
| 分类号： | G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 英国赫特福德郡 |
| 主权项： | 1.一种离子迁移光谱测定方法，包括：确定样本是否包含具有第一特性的离子；在确定所述样本包含具有所述第一特性的离子的情况下，则对母离子施加热能以及射频RF电场，以便获取具有第二特性的子离子，以基于所述第一特性和所述第二特性来推断出所述母离子的至少一个标识。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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