| 专利名称： |
一种基于金属磁记忆信号的缺陷成像和量化方法 |
| 摘要： |
本发明公开了一种基于金属磁记忆信号的缺陷成像和量化方法，用以解决现有技术中基于金属磁记忆信号的铁磁材料缺陷检测无法实现成像和尺寸量化的问题。包括：S1：提取待测构件表面漏磁场信号；S2：重构待测构件的磁荷场分布，获得磁化场和磁化梯度场；S3：将磁化场和磁化梯度场数据融合，确定初始缺陷区域；S4：提取初始缺陷区域内系列扫查线上磁化场幅值和初始缺陷宽度，建立待测构件的磁化场幅值与缺陷宽度的线性关系，并获得此线性关系的线性比例常数；S6：利用上述线性关系，进一步获得待测构件缺陷区域的精确成像和量化。本发明填补了现有技术中利用金属磁记忆信号实现缺陷成像及量化的空白，操作简单，检测成本低，效率高。 |
| 专利类型： |
发明专利 |
| 国家地区组织代码： |
宁夏;64 |
| 申请人： |
北方民族大学 |
| 发明人： |
李红梅;黄冉冉 |
| 专利状态： |
有效 |
| 申请号： |
CN201810865830.9 |
| 公开号： |
CN109342553A |
| 代理机构： |
银川长征知识产权代理事务所 64102 |
| 代理人： |
邢芳丽 |
| 分类号： |
G01N27/85(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： |
750021 宁夏回族自治区银川市西夏区文昌北街204号 |
| 主权项： |
1.一种基于金属磁记忆信号的缺陷成像和量化方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：在地磁条件下，使用漏磁场传感器对力载荷作用下或作用后的在役铁磁构件进行表面漏磁场扫查，提取构件检测范围内的表面漏磁场信号B(rj)；S2：根据磁荷场q(ri′)与漏磁场B(rj)的关系式![]() 式中，ri'为构件内部的源点，rj为构件表面的场点，B(rj)为场点rj的漏磁信号，q(ri')为源点ri'的磁荷密度，vi为源点的单位体积，μ0为真空磁导率，应用磁荷分布反演算法，对检测范围内构件内部的磁荷场q(ri')分布进行重构，得到构件内部的磁荷场q(ri')分布；S3：根据步骤S2中得到的磁荷场q(ri')分布，并根据磁荷场q(ri')与磁化场M(ri')的关系式![]() 得到检测范围内构件内部的磁化场M(ri')；对获得的磁化场M(ri')求梯度，得到磁化梯度场▽M(ri')分布；S4：分别对磁化场M(ri')和磁化梯度场▽M(ri')取绝对值，并进行[01]范围内的归一化处理，得到Nor|M(ri')|和Nor|▽M(ri')|；将获得的Nor|M(ri')|和Nor|▽M(ri')|求和，得到磁化场和磁化梯度场融合数据Nor|M(ri')|+Nor|▽M(ri')|；S5：将磁化场与磁化梯度场融合数据Nor|M(ri')|+Nor|▽M(ri')|中幅值大于1的区域判定为初始缺陷区域，实现缺陷区域初始成像；S6：将磁化梯度场▽M(ri')两个最大幅值连线，并在初始缺陷区域内，设置与所述连线方向相同的系列平行扫查线l，相邻平行扫查线之间间隔1mm；并根据磁化场的归一化绝对值Nor|M(ri')|，提取系列平行扫查线l上的磁化场幅值Ml；S7：根据初始缺陷区域的成像，提取初始缺陷区域内系列平行扫查线l的初始缺陷宽度W0l,并根据获得的W0l求得平均值W0；S8：根据系列平行扫查线l上的磁化场幅值Ml和初始缺陷宽度W0l，得出磁化场幅值Ml与初始缺陷宽度W0l成线性关系的结论，即W0l＝kMl；基于所述结论，将W0与磁化场幅值Ml的最大值Mlmax对应，对所述k进行修正，获得修正后的系列平行扫查线l上缺陷宽度与磁化场幅值之间的线性比例常数kx＝W0/1；S9：由系列平行扫查线上的磁化场幅值Ml，并磁化场幅值Ml与缺陷宽度成线性关系的结论，即W0x＝kxMl，求得修正后的系列平行扫查线l上的缺陷宽度W0x；将W0x沿扫查线l排列，实现对检测范围内缺陷区域的精确成像和量化。 |
| 所属类别： |
发明专利 |
