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一种测定钼铁合金主次成分的熔融制样—X荧光光谱法
| 专利名称： | 一种测定钼铁合金主次成分的熔融制样—X荧光光谱法 |
| 摘要： | 本发明公开一种测定钼铁合金主次成分的熔融制样—X荧光光谱法，将钼铁合金粉末试样与混合氧化剂、熔剂一并加入到铂金坩埚后，采用熔融炉直接熔融成玻璃片，用于X荧光光谱仪分析的方法。本发明与现有技术相比，操作步骤少、简单明了、易于掌握，最重要的是免去了合金熔片预处理的步骤，同时解决了铂金坩埚与合金在高温下接触易被腐蚀、穿透等安全问题。采用本发明，结合6工位电熔融炉，每分析6个合金样品，从称样到报出结果时间约为0.8h，坩埚腐蚀概率为0，样品的分析结果满足相关国家化学分析标准中的精密度要求，可适用于钢铁企业合金的验收、合金制造商的内部质控、出厂检验。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 南京钢铁股份有限公司 |
| 发明人： | 潘宇洁;赵宁;汤兰兰;刘素祥;孙炜;王一海;王长军;柳东徽 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811531881.4 |
| 公开号： | CN109358080A |
| 代理机构： | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 |
| 代理人： | 任立;艾中兰 |
| 分类号： | G01N23/2202(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 210035 江苏省南京市六合区卸甲甸 |
| 主权项： | 1.一种测定钼铁合金主次成分的熔融制样—X荧光光谱法，其特征在于包括以下步骤：1）选取多个与待检测样品同基体类型标准样品，标准样品粒度研磨至180目以上；2）称取0.100‑0.300g标准样品置于瓷坩埚中，加入标准样品5‑20倍质量的混合氧化剂和标准样品2‑5倍质量的四硼酸锂固体试剂，搅拌均匀；3）在铂金坩埚中称入标准样品10‑100倍质量的熔剂和0.10‑2.00g脱模剂，搅拌均匀，并使其中心区域略凹陷；将步骤2）混合均匀后的标准样品缓慢倒入铂金坩埚中心区域，置于电熔融炉上；熔融过程实现低温预氧化铁合金、熔剂不变，高温熔解熔剂与预氧化后的混合物，最终制成分析用均匀、透明的玻璃片；4）采用X射线荧光光谱仪测试标准样品中所需元素强度值，将所测强度值与标准值建成一次工作曲线，线性相关系数满足分析要求；5）块状钼铁合金待检测样品研磨至与标准样品同等粒度，按步骤3）熔融成玻璃片，用X射线荧光光谱仪分析其成分值。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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