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一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法
| 专利名称： | 一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法，步骤包括：将测试样品固定安装于短波长X射线衍射装置的样品台上；选取测试样品某一测试部位作为基准点；采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Y轴坐标YS、Z轴坐标ZS和X轴坐标XS；很据坐标XS、YS、ZS和测试样品的尺寸坐标关系，计算确定测试样品其它待测部位的三维坐标，通过将样品台的X、Y、Z轴运动到计算确定的待测部位坐标，从而将测试样品待测部位定位于短波长X射线衍射仪圆的圆心。本发明解决了单层平板样品、空心等壁厚样品、空心不等壁厚样品内部测试部位的定位问题，能够实现对各种测试样品测试部位的精确定位。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 重庆;50 |
| 申请人： | 中国兵器工业第五九研究所 |
| 发明人： | 窦世涛;郑林;肖勇;张津;何长光;张伦武;朱蕾;彭正坤 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811546826.2 |
| 公开号： | CN109374659A |
| 代理机构： | 重庆弘旭专利代理有限责任公司 50209 |
| 代理人： | 韩绍兴 |
| 分类号： | G01N23/20(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 400039 重庆市九龙坡区石桥铺渝州路33号 |
| 主权项： | 1.一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法，其特征在于步骤如下：步骤1：将测试样品固定安装于短波长X射线衍射装置的样品台上；步骤2：选取测试样品某一测试部位作为基准点；步骤3：采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Y轴坐标YS；步骤4：采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Z轴坐标ZS；步骤5：采用测试穿透样品基准点的短波长X射线衍射强度分布的方法获取测试样品厚度方向基准点的X轴坐标XS；步骤6：根据步骤3、4和5中获取的测试样品基准点坐标XS、YS、ZS和测试样品的尺寸坐标关系，计算确定测试样品其它待测部位的三维坐标，通过将样品台的X、Y、Z轴运动到计算确定的待测部位坐标处，从而将测试样品待测部位定位于短波长X射线衍射仪圆的圆心。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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