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用于分析流体包裹体中气态烃碳氢同位素的分析装置
| 专利名称： | 用于分析流体包裹体中气态烃碳氢同位素的分析装置 |
| 摘要： | 本发明提出了一种用于分析流体包裹体中气态烃碳氢同位素的分析装置，其包括：激光显微取样系统、样品纯化富集系统和样品分离系统，其中，所述激光显微取样系统包括激光器和样品室，所述激光器激发所述样品室内的流体包裹体以提取气态烃，所述气态烃通过所述样品纯化富集系统以进行纯化，纯化后的气态烃通过所述样品分离系统检测出气态烃碳氢同位素。本发明的分析装置能够实现流体包裹体中微痕量样品气体的在线检测，整个分析时间不超过二十分钟，且该分析性能稳定，操作方便，能实现快速、准确地检测流体包裹体中气态烃碳氢同位素。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 发明人： | 腾格尔;杨华敏;王杰;陶成;王萍;罗厚勇;把立强 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201710680237.2 |
| 公开号： | CN109387577A |
| 代理机构： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 |
| 代理人： | 吴大建;王浩 |
| 分类号： | G01N30/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N30 |
| 申请人地址： | 100728 北京市朝阳区朝阳门北大街22号 |
| 主权项： | 1.一种用于分析流体包裹体中气态烃碳氢同位素的分析装置，其特征在于，所述分析装置包括：激光显微取样系统、样品纯化富集系统和样品分离系统，其中，所述激光显微取样系统包括激光器和样品室，所述激光器激发所述样品室内的流体包裹体以提取气态烃，所述气态烃通过所述样品纯化富集系统以进行纯化，纯化后的气态烃通过所述样品分离系统检测出气态烃碳氢同位素。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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