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原文传递光学式瑕疵检测系统

专利名称：	光学式瑕疵检测系统
摘要：	本实用新型公开了一种光学式瑕疵检测系统，包括：多个平台，每一平台被驱动在一往复方向上移动；一影像拍摄系统，包括一相机，该相机用以从一待检测物的一检测面上拍摄影像；以及一移动控制装置，控制该些平台在该往复方向上移动；该光学式瑕疵检测系统包括：多个光源装置，分别配置以照明被每一平台所承载的该待检测物的该检测面，该移动控制装置控制该相机在垂直于该往复方向上移动，使该影像拍摄系统分别从各平台所承载的该待检测物且从各光源装置所照明的该检测面上拍摄影像，以检测该检测面的瑕疵。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	中国台湾;71
申请人：	联策科技股份有限公司
发明人：	陈文生;李彦志
专利状态：	有效
申请号：	CN201821008354.0
公开号：	CN208547582U
代理机构：	北京汇信合知识产权代理有限公司 11335
代理人：	翟国明
分类号：	G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	中国台湾桃园市桃园区龙寿街81巷10号
主权项：	1.一种光学式瑕疵检测系统，包括：多个台面，每一台面被驱动在一往复方向上移动；一影像拍摄系统，包括一相机，该相机用以从一待检测物的一检测面上拍摄影像；以及一移动控制装置，控制该台面在该往复方向上移动；其特征在于：该光学式瑕疵检测系统包括：多个光源装置，分别配置以照明被每一台面所承载的该待检测物的该检测面，该移动控制装置控制该相机在垂直于该往复方向上移动，使该影像拍摄系统分别从各台面所承载的该待检测物且从各光源装置所照明的该检测面上拍摄影像，以检测该检测面的瑕疵。
所属类别：	实用新型