详情

原文传递光学参数测试系统

专利名称：	光学参数测试系统
摘要：	本实用新型涉及一种光学参数测试系统，光学参数测试系统具有测试工位，用于测试待测产品的反射率及透射率。光学参数测试系统包括光源、匀光积分球、第一光谱仪、收光积分球及第二光谱仪。匀光积分球的侧壁开设有通光孔、反射孔及透光孔，通光孔与光源光连接；第一光谱仪与反射孔光连接；收光积分球与匀光积分球间隔设置，收光积分球具有入射孔及出射孔，入射孔与透光孔对齐，且测试工位位于入射孔与透光孔之间；第二光谱仪与出射孔光连接。上述光学参数测试系统具有较高的测试效率。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市杰普特光电股份有限公司
发明人：	李梁;成学平;刘猛
专利状态：	有效
申请号：	CN201820722745.2
公开号：	CN208547569U
代理机构：	广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：	石佩
分类号：	G01N21/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518100 广东省深圳市龙华新区观澜街道上坑社区观盛五路5号泰豪科技厂区1号楼南、西三楼
主权项：	1.光学参数测试系统，具有测试工位，用于测试待测产品的反射率及透射率，其特征在于，包括：光源；匀光积分球，所述匀光积分球的侧壁开设有通光孔、反射孔及透光孔，所述通光孔与所述光源光连接；第一光谱仪，所述第一光谱仪与所述反射孔光连接；收光积分球，所述收光积分球与所述匀光积分球间隔设置，所述收光积分球具有入射孔及出射孔，所述入射孔与所述透光孔对齐，且所述测试工位位于所述入射孔与所述透光孔之间；第二光谱仪，所述第二光谱仪与所述出射孔光连接。
所属类别：	实用新型