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一种用于平面黑材料的光学参数测试装置及方法
| 专利名称： | 一种用于平面黑材料的光学参数测试装置及方法 |
| 摘要： | 本发明提出了一种用于平面黑材料的光学参数测试装置，包括：LDLS激光驱动光源、单色仪、光束准直系统、分束器、积分球、黑体腔、陷阱探测器、反射镜、控制器、监视探测器、前置放大器、七位半电压表、工控机；所述LDLS激光驱动光源输出复色光，依次经单色仪、准直系统和分束器后分别进入监视探测器和积分球，并使得测量光束从积分球光源入孔经两次反射后从样品测试孔中心穿过，在远离积分球位置倾斜放置高吸收比的黑体腔；在积分球探测器端放置陷阱探测器，并将监视探测器和陷阱探测器依次连接至前置放大器和七位半电压表。本发明可实现平面黑材料宽波段下综合光学参数测试，有助于提高黑体腔吸收率和低温辐射计的测量精度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山东;37 |
| 申请人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 发明人： | 庄新港;刘红博;刘红元;史学舜;张鹏举;刘长明;王恒飞 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811360000.7 |
| 公开号： | CN109342317A |
| 代理机构： | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 |
| 代理人： | 李慧 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号 |
| 主权项： | 1.一种用于平面黑材料的光学参数测试装置，其特征在于，包括：LDLS激光驱动光源、单色仪、光束准直系统、分束器、积分球、黑体腔、陷阱探测器、反射镜、控制器、监视探测器、前置放大器、七位半电压表、工控机；所述LDLS激光驱动光源输出复色光，依次经单色仪、准直系统和分束器后分别进入监视探测器和积分球，并使得测量光束从积分球光源入孔经两次反射后从样品测试孔中心穿过，在远离积分球位置倾斜放置高吸收比的黑体腔；在积分球探测器端放置陷阱探测器，并将监视探测器和陷阱探测器依次连接至前置放大器和七位半电压表。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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