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原文传递光学材料条纹的定量测试方法

专利名称：	光学材料条纹的定量测试方法
摘要：	本发明涉及光学材料条纹的定量测试方法，涉及光学材料条纹测试技术领域。本发明首先是创建一个条纹量化表达的概念和条纹量化算法公式，然后应用光电探测器接收的光学投影测试装置，通过建立光电探测器的接收信号的灰度标尺和校准投影装置的标准校样，对光学投影测试装置进行标定或校准，用标定或校准的光学投影测试装置对被测样品进行测试，并由光学投影测试装置对样品的测试图像进行统计，按条纹量化算法公式进行计算，获得被测试样品的条纹缺陷的定量表达值。本发明使光学材料条纹测试的结果由人工评定转变为按照条纹值的算法由光电投影测试装置自动算出定量结果，大大提高了测试的精准性和测试的客观性，同时还大大提高测试工作的效率，使获得测试图像的同时就获得了定量测试结果。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国兵器工业标准化研究所
发明人：	麦绿波
专利状态：	有效
申请号：	CN201811138838.1
公开号：	CN109342437A
代理机构：	中国兵器工业集团公司专利中心 11011
代理人：	王雪芬
分类号：	G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100089 北京市海淀区车道沟10号院
主权项：	1.光学材料条纹的定量测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、建立光学材料条纹量化表达的指标值——“条纹值”，并根据光学材料条纹的表现形式及其光学性能影响因素，建立条纹量的算法公式，设S为“条纹值”、i为测试样品条纹图像中灰度微元的序号、Δgi为测试样品条纹图像中第i微元的灰度值、Δgm为测试样品条纹图像中微元的平均灰度值、n为测试样品条纹图像中微元的总数量、j为测试样品条纹图像中条纹的序数、aj为测试样品条纹图像中第j条条纹的面积、m为测试样品条纹图像中条纹的总数量，A为测试样品条纹图像的总面积、d为测试样品的厚度，则“条纹值”S按以下公式计算：式(1)表明，“条纹值”为测试样品单位厚度的条纹平均灰度与条纹总面积占测试样品总面积的百分比之积；步骤S2、按照如下方式构造所述光电投影测试装置：该装置依次光路方向依次包括平行光源系统(1)、测试样品(2)、正透镜(3)、正透镜(6)和探测器(7)，并使用样品台(9)承载测试样品(2)；步骤S3、对所述光电测试投影装置的探测器(7)在其动态范围对探测元设定光能量响应的灰度标尺，所述灰度标尺的灰度等级数量根据测试期望的精度分级；步骤S4、制作标准校样用于对所述光电投影测试装置进行校准，所述标准校样分别为零灰度标准校样(401)、中灰度标准校样(402)、中低灰度标准校样(403)、中高灰度标准校样(404)；所述零灰度标准校样(401)是内部无任何条纹缺陷的标准校样；所述中灰度标准校样(402)是取条纹最大灰度的中间灰度的标准校样，按50％灰度值标定光电投影测试装置；所有标准校样的厚度为统一的厚度，其材料与被测试样品的材料牌号相同；步骤S5、将光学材料的测试样品(2)磨制成与所述标准校样相同的厚度；步骤S6、利用步骤S4制作的标准校样对所述光电投影测试装置角线标定，用标定后的光学投影测试装置对测试样品(2)进行测试，并由光学投影测试装置对测试样品(2)的测试图像进行统计，按步骤S1建立的公式进行计算，获得被测试样品的条纹缺陷的定量表达值。
所属类别：	发明专利