专利名称: |
光学材料紫外折射率测试方法 |
摘要: |
本发明提供一种光学材料紫外折射率的测试方法,采用V棱镜原理测量。使用具有良好紫外透过性能的V棱镜,通过紫外窄带滤光片和准直光学系统将高压汞灯发出的光进行单色、准直处理,得到紫外单色平行光。使用紫外增强型CCD相机做为信号接收器,通过计算机图像处理技术,对出射光进行瞄准。在光源和滤光片的光路之间安装扇叶式斩波器,斩波器匀速旋转,使光强信号呈周期性变化的矩形方波,消除杂散光等噪声信号的影响,提高CCD相机瞄准的准确度。使用精度达到2秒的轴角编码器,采用光栅角位移检测技术测量紫外单色出射光的偏折角度,最终实现光学材料紫外波段特征谱线折射率的准确测量,测量精度可达到±1×10‑5。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
湖北;42 |
申请人: |
湖北新华光信息材料有限公司 |
发明人: |
李兢;姜敬陆;徐华峰;李攀;何学华 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201710966687.8 |
公开号: |
CN107831140A |
代理机构: |
襄阳嘉琛知识产权事务所 42217 |
代理人: |
严崇姚 |
分类号: |
G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/41 |
申请人地址: |
441057 湖北省襄阳市长虹北路67号 |
主权项: |
一种光学材料紫外折射率测试方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:⑴采用由高压汞灯、紫外窄带滤光片、狭缝和准直光学系统构成的光路,高压汞灯发出的光线通过紫外窄带滤光片进行单色处理后,均匀照射到狭缝上,再经过准直光学系统准直处理后,形成紫外单色平行光;⑵采用上表面带对称直角凹槽的矩形体V棱镜;采用一个与V棱镜折射率相同的直角棱镜作为标准样品;把标准样品放置在V棱镜的直角凹槽内;⑶将第⑴步骤形成的紫外单色平行光垂直照射V棱镜的一个侧面,经标准样品的两个直角面折射及V棱镜的另一个侧面射出,测定仪器系统零位角度θ1;⑷将待测样品加工成直角棱镜;把待测样品涂抹上和待测样品折射率接近的折射液,放置在V棱镜的直角凹槽内;⑸将第⑴步骤形成的紫外单色平行光垂直照射V棱镜的一个侧面,经待测样品的两个直角面折射及V棱镜的另一个侧面射出;在射出方向设置由转臂同步联动的CCD相机和轴角编码器,CCD相机将出射狭缝像显示在计算机显示屏上,由轴角编码器测定出折射后紫外特征谱线出射角度θ2;⑹按照公式(1)计算偏折角θ;按照公式(2)计算出待测样品紫外特征谱线的折射率n;(1)(2)式中:n0‑‑‑V棱镜的折射率;n‑‑‑被测样品的折射率;θ‑‑‑出射光线的偏折角;当n>n0时,θ为正值;当n<n0时,θ为负值。 |
所属类别: |
发明专利 |